ДСТУ Б А.1.1-9-94
Завантажити документ
Формат .docx · доступно зареєстрованим користувачам
<HTM>
<META HTTP-EQUIV="Content-Type" CONTENT="text/html; charset=windows-1251">
<BODY font face=Courier size=2>
<PRE>
-----------------------------
Òåðì³íè òà âèçíà÷åííÿ
Âèäàííÿ îô³ö³éíå
Äåðæêîìì³ñòîáóäóâàííÿ Óêðà¿íè
Êè¿â
Ïåðåäìîâà
Óêðà¿íñüêèì íàóêîâî-äîñë³äíèì ³
ïðîåêòíî-êîíñòðóêòîðñüêèì ³íñòèòóòîì
áóä³âåëüíèõ ìàòåð³àë³â òà âèðîá³â (ÍIJÁÌÂ
Óïðàâë³ííÿì äåðæàâíèõ íîðìàòèâ³â ³ ñòàíäàðò³â
̳íáóäàðõ³òåêòóðè Óêðà¿íè
Íàêàçîì ̳í³ñòåðñòâà Óêðà¿íè â ñïðàâàõ
áóä³âíèöòâà ³ àðõ³òåêòóðè â³ä 12.04.94 ð. N83
1 Ãàëóçü âèêîðèñòàííÿ .......................... 1
2 Íîðìàòèâí³ ïîñèëàííÿ ......................... 2
3 Îñíîâí³ ïîëîæåííÿ ............................ 2
4 Çàãàëüí³ ïîíÿòòÿ ............................. 3
4.1 Îñíîâí³ âèäè åëåêòðîííèõ ì³êðîñêîï³â ..... 3
4.2 Ìåòîäè îäåðæàííÿ çîáðàæåííÿ â
åëåêòðîííèõ ì³êðîñêîïàõ .................. 5
4.3 Ìåòîäè äîñë³äæåíü â ïðîñâ³÷óâàëü³é
åëåêòðîíí³é ì³êðîñêîﳿ .................. 8
Àáåòêîâèé ïîêàæ÷èê óêðà¿íñüêèõ òåðì³í³â ........ 17
Àáåòêîâèé ïîêàæ÷èê í³ìåöüêèõ òåðì³í³â .......... 18
Àáåòêîâèé ïîêàæ÷èê àíãë³éñüêèõ òåðì³í³â ........ 19
Àáåòêîâèé ïîêàæ÷èê ôðàíöóçñüêèõ òåðì³í³â ....... 20
Àáåòêîâèé ïîêàæ÷èê ðîñ³éñüêèõ òåðì³í³â ......... 21
----------------------------------
Òåðì³íè òà âèçíà÷åííÿ
Òåðìèíû è îïðåäåëåíèÿ
Terms and definitions
------------------------------------------------------------
×èííèé â³ä 1994-10-01
1 ÃÀËÓÇÜ ÂÈÊÎÐÈÑÒÀÍÍß
1.1 Öåé ñòàíäàðò óñòàíîâëþº òåðì³íè òà âèçíà÷åííÿ ïîíÿòü, ìå-
òîä³â åëåêòðîííî¿ ì³êðîñêîﳿ.
1.2 Òåðì³íè, ðåãëàìåíòîâàí³ â öüîìó ñòàíäàðò³, ïðèäàòí³
äëÿ âèêîðèñòàííÿ â óñ³õ âèäàõ íîðìàòèâíî¿ äîêóìåíòàö³¿, ó äîâ³äêî-
â³é òà íàâ÷àëüíî-ìåòîäè÷í³é ë³òåðàòóð³ à òàêîæ äëÿ ðîá³ò ç ïèòàíü
ñòàíäàðòèçàö³¿ àáî ïðè âèêîðèñòàíí³ ðåçóëüòàò³â öèõ ðîá³ò, âêëþ÷à-
þ÷è ïðîãðàìí³ çàñîáè äëÿ êîìï'þòåðíèõ ñèñòåì.
1.3 Âèìîãè ñòàíäàðòó ÷èíí³ äëÿ âèêîðèñòàííÿ â ðîáîò³ ï³äïðè-
ºìñòâ óñòàíîâ, îðãàí³çàö³é, ùî ä³þòü íà òåðèòî𳿠Óêðà¿íè
--------------------------
Âèäàííÿ îô³ö³éíå
- 2 -
òåõí³÷íèõ êîì³òåò³â ç ñòàíäàðòèçàö³¿, íàóêîâî-òåõí³÷íèõ òà ³íæåíåð-
íèõ òîâàðèñòâ, ì³í³ñòåðñòâ (â³äîìñòâ).
2 ÍÎÐÌÀÒÈÂͲ ÏÎÑÈËÀÍÍß
Ó öüîìó ñòàíäàðò³ º ïîñèëàííÿ íà òàê³ äîêóìåíòè:
ÄÑÒÓ 1.2-93 | Äåðæàâíà ñèñòåìà ñòàíäàðòèçàö³¿ Óêðà¿íè.
| Ïîðÿäîê ðîçðîáëåííÿ äåðæàâíèõ ñòàíäàðò³â.
----------------------------------------------------------
ÄÑÒÓ 1.5-93 | Äåðæàâíà ñèñòåìà ñòàíäàðòèçàö³¿ Óêðà¿íè.
| Çàãàëüí³ âèìîãè äî ïîáóäîâè, âèêëàäó,
| îôîðìëåííÿ òà çì³ñòó ñòàíäàðò³â.
----------------------------------------------------------
ÊÍÄ 50-011-93| Îñíîâí³ ïîëîæåííÿ òà ïîðÿäîê ðîçðîáëåííÿ
| ñòàíäàðò³â íà òåðì³íè òà âèçíà÷åííÿ.
----------------------------------------------------------
3 ÎÑÍÎÂͲ ÏÎËÎÆÅÍÍß
3.1 Äëÿ êîæíîãî ïîíÿòòÿ âñòàíîâëåíî îäèí ñòàíäàðòèçîâàíèé
òåðì³í.
3.2 Ïîäàí³ âèçíà÷åííÿ ìîæíà â ðàç³ íåîáõ³äíîñò³ ðîçâèâàòè
øëÿõîì ââåäåííÿ äî íèõ ïîõ³äíèõ îçíàê, ÿê³ äîïîâíþþòü çíà÷åííÿ
òåðì³í³â ùî âèêîðèñòîâóþòüñÿ. Äîïîâíåííÿ íå ìîæóòü ïîðóøóâàòè
îáñÿãè ³ çì³ñò ïîíÿòü, âèçíà÷åíèõ ó ñòàíäàðò³.
3.3 Ó ñòàíäàðò³, ÿê äîâ³äêîâ³, ïîäàí³ í³ìåöüêè (de), àíãë³-
éñüê³ en , ôðàíöóçüê³ (fr) ³ ðîñ³éñüê³ (ru) â³äïîâ³äíèêè ñòàíäàð-
òèçîâàíèõ òåðì³í³â à òàêîæ âèçíà÷åííÿ ðîñ³éñüêîþ ìîâîþ.
3.4 Ó ñòàíäàðò³ íàâåäåíî àáåòêîâèé ïîêàæ÷èê òåðì³í³â óêðà¿í-
ñüêîþ ìîâîþ òà àáåòêîâ³ ïîêàæ÷èêè ³íøîìîâíèõ â³äïîâ³äíèê³â ñòàí-
äàðòèçîâàíèõ òåðì³í³â êîæíîþ ìîâîþ îêðåìî.
- 3 -
4 ÇÀÃÀËÜͲ ÏÎÍßÒÒß
4.1.1 åëåêòðîííèé ì³êðîñêîï de Elektronenmikroskop
en electron microscope
fr microscope electro-
nique
ru ýëåêòðîííûé ìèêðîñêîï
Ìèêðîñêîï, ÿêèé ôîðìóº Ìèêðîñêîï, ôîðìèðóþùèé
çîáðàæåííÿ îá'ºêòà åëåê- èçîáðàæåíèå îáúåêòà ýëåê-
òðîííèìè ïó÷êàìè i çà- òðîííûìè ïó÷êàìè è ñðåä-
ñîáàìè åëåêòðîííî¿ îï- ñòâàìè ýëåêòðîííîé îïòè-
òèêè êè
4.1.2 ïðîñâ³÷óâàëüíèé åëåê- de Durchstrahlungselektronen
òðîííèé ì³êðîñêîï mikroskop
en transmission electron
microscope
fr microscope [e2]lectro- *
nique par transmission
ru ïðîñâå÷èâàþùèé ýëåêòðîííûé
ìèêðîñêîï
Åëåêòðîííèé ì³êðîñêîï, Ýëåêòðîííûé ìèêðîñêîï,
ÿêèé ôîðìóº çîáðàæåí- ôîðìèðóþùèé èçîáðàæåíèå
íÿ îá'ºêòà ïó÷êàìè, ùî îáÜåêòà ýëåêòðîííûìè ïó÷-
ïðîõîäÿòü ÷åðåç öåé îá'- êàìè, ïðîõîäÿùèìè ñêâîçü
ºêò ýòîò îáüåêò
4.1.3 â³äáèâíèé åëåêòðîííèé de Retlexionselektronen
ì³êðîñêîï mikroskop
ån reflection electron micros-
cope
fr microscope [e2]lectro- *
nique ðar råflexion
ru îòðàæàòåëüíûé ýëåêòðîííûé
ìèêðîñêîï
Åëåêòðîííèé ì³êðîñêîï, Ýëåêòðîííûé ìèêðîñêîï,
ÿêèé ôîðìóº çîáðàæåí- ôîðìèðóþùèé èçîáðàæåíèå
íÿ îá'ºêòà åëåêòðîííè- îáúåêòà ýëåêòðîííûìè ïó÷-
ìè ïó÷êàìè â³äáèòèìè êàìè, îòðàæåííûìè îáüåê-
îá'ºêòîì òîì
4.1.4 eì³ñ³éíèé åëåêòðîííèé de Emissionselektronen
ì³êðîñêîï mikroskop
en emission microscope
fr microscope [a4] [e2]mis- *
sion
ru ýìèññèîííûé ýëåêòðîííûé
ìèêðîñêîï
Åëåêòðîííèé ì³êðîñêîï, Ýëåêòðîííûé ìèêðîñêîï,
ÿêèé ôîðìóº çîáðàæåííÿ ôîðìèðóþùèé èçîáðàæåíèå
çà äîïîìîãîþ âòîðèííîãî îúåêòà ñ ïîìîùüþ âòîðè÷-
âèïðîì³íþâàííÿ, ùî óòâîðè- íîãî èçëó÷åíèÿ, îáðàçîâàí-
- 4 -
ëîñü ïðè âçàºìî䳿 ïó÷êà íîãî ïðè âçàèìîäåéñòâèè
åëåêòðîí³â ³ îá ºêòà ïó÷êà ýëåêòðîíîâ è îáúåêòà
4.1.5 äçåðêàëüíèé åëåêòðîí- de Elektronenspiegelmikroskop
íèé ì³êðîñêîï en mirror electron microscope
fr microscope [e2]ltetro- *
nique [à4] mirroir *
ru çåðêàëüíûé ýëåêòðîííûé
ìèêðîñêîï
Åëåêòðîííûé ì³êñðîñêîï Ýëåêòpîííûé ìèêðîñêîï,
ÿêèé ôîðìóº çîáðàæåí- ôîðìèðóþùèé èçîáðàæåíèå
íÿ îá'ºêòà çà äîïîìîãîþ îáüåêòà ýëåêòðîííûì çåð-
åëåêòðîííîãî äçåðêàëà êàëîì
4.1.6 àâòîåëåêòðîííèé de Fel delektronenmikroskop
ì³êðîñêîï en field-emission microscope
fr auto-[e2]lectron projec- *
teur
ru àâòîýëåêòðîííûé ìèêðîñêîï
Åëåêòðîííèé ì³êðîñêîï, Ýëåêòðîííûé ìèêðîñêîï,
ÿêèé ôîðìóº çîáðàæåí- ôîðìèðóþùèé èçîáðàæåíèå
íÿ åëåêòðîííèì ïó÷êîì, ýëåêòðîííûì ïó÷êîì èç-
ùî âèïðîì³íþº îá'ºêò, ëó÷àåìûì îáúåêòîì, ïîä
ï³ä âïëèâîì ïîòåíö³àëó âîçäåéñòâèåì ïîòåíöèàëà
åëåêòðè÷íîãî ïîëÿ ïîëÿ
4.1.7 åëåêòðîíîãðàô de Elektronenbeugungsapparat
ån electron diffractometer
fr diffractom[e2]tre [e2]le- *
ctronique
ru ýëåêòðîíîãðàô
Åëåêòðîííèé ì³êðîñêîï Ýëåêòðîííûé ìèêðîñêîï
àáî ïðèëàä y ïðîñâ³÷ó- èëè óñòðîéñòâî â ïðîñâå÷è-
âàëüíîìó åëåêòðîííîìó âàþùåì ýëåêòðîííîì ìèê-
ì³êðîñêîï³ äëÿ âèâ÷åí- ðîñêîïå äëÿ èçó÷åíèÿ ñòðóê-
íÿ ñòðóêòóðè êðèñòà- òóðû êðèñòàëëè÷åñêèõ ôàç
ë³÷íèõ ôàç ìåòîäîì äèô- äèôðàêöèè ýëåêòðîíîâ
ðàêö³¿ åëåêòðîí³â
4.1.8 ò³íüîâèé åëåêòðîííèé de Schattenmikroskop
ì³êðîñêîï ån shadow electron micros-
cope
fr microscope [e2]lectroni- *
que d'ombre
ru òåíåâîé ýëåêòðîííûé ìèê-
ðîñêîï
Åëåêòðîííèé ì³êðîñêîï, Ýëåêòðîííûé ìèêðîñêîï,
ÿêèé ôîðìóº çîáðàæåí- ôîðìèðóþùèé èçîáðàæåíèå
íÿ îá ºêòà, ùî îáóìîâ- îáüåêòà, îáóñëîâëåííîå ïî-
ëåíå âáèðàííÿì i ðîç- ãëîùåíèåì è ðàñññåèâàíèåì
ñiþâàííÿì åëåêòðîí³â â ýëåêòðîíîâ â îáÜåêòå ïðè
îá'ºêò³ ïðè çîíäóâàíí³ çîíäèðîâàíèè åãî ýëåêòðîí-
éîãî åëåêòðîííèìè ïó÷- íûìè ïó÷êàìè
êàìè
- 5 -
4.1.9 åëåêòðîííèé ì³êðîñêîï då H[o1]ñhstspannungelektro- *
íàäâèñîêî¿ ííïðóãè nenmikroskop
en ultrahigh voltage electron
microscope
fr miñrîscoðå [e2]lectro- *
nique då tr[e2]s haute *
tension
ru ýëåêòðîííûé ìèêðîñêîï
ñâåðõâûñîêîãî íàïðÿæåíèÿ
Ïpocâi÷óâàëüíèé åëåê- Ïðîñâå÷èâàþùèé ýëåêòðîí-
òðîííèé ì³êðîñêîï ç íûé ìèêðîñêîï ñ óñêîðÿþ-
ïðèñêîðþâàëüíîþ íà- ùèì íàïðÿæåíèåì ñâûøå
ïðóãîþ ïîíàä 25 ê 25 êÂ
4.1.10 âèñîêîòåìïåðàòóðíèé de Hochtemperaturelectronen-
åëåêòðîííèé ì³êðîñêîï mikroskop
en high temperature eleñtrîn
microscope
fr microsñîðå [e2]lectroni- *
que de haute temp[e2]ra- *
ture
ru âûñîêîòåìïåðàòóðíûé
ýëåêòðîííûé ìèêðîñêîï
Ïðîñâ³÷óâàëüíèé åëåê- Ïðîñâå÷èâàþùèé ýëåêòðîííûé
òðîííèé ì³êðîñêîï ç íà- ìèêðîñêîï ñ íàãðåâàíèåì
ãð³âàííÿì îá'ºêòà ïîíàä îáüåêòà ñâûøå 300 îÑ
300 îÑ
4.1.11 ðàñòðîâèé åëåêòðîííèé då Rasterelektronenmikroskop
ì³êðîñêîï en scanning electron micros-
cope
fr microscope [e2]lectro- *
nique [à4] trame *
ru ðàñòðîâûé ýëåêòðîííûé
ìèêðîñêîï
Åëåêòðîííèé ì³êðîñêîï, Ýëåêòðîííûé ìèêðîñêîï,
ÿêèé ôîðìóº çîáðàæåí- ôîðìèðóþùèé èçîáðàæåíèå
íÿ î6 ºêòà ïðè ñêàíóâàí- îáúåêòà ïðè ñêàíèðîâàíèè
íi éîãî ïîâåðõíi eëåê- åãî ïîâåðõíîñòè ýëåêòðîí-
òðîííèì çîíäîì íûì çîíäîì
4.2 ÌÅÒÎÄÈ ÎÄÅÐÆÀÍÍß ÇÎÁÐÀÆÅÍÍß
4.2.1 ñâ³òëîôîíîâå çîáðà- de Hellichtbild
æåííÿ ån bright-tield image
fr inage de camp claire
ru ñâåòëîïîëüíîå èçîáðàæå-
íèå
Çîáðàæåííÿ, ñôîðìîâà- Èçîáðàæåíèå, ñôîðìèðî-
íå ó ïðîñâi÷óâàëüíîìó âàííîå â ïðîñâå÷èâàþùåì
ì³êðîñêîï³ åëåêòðîííè- ìèêðîñêîïå ýëåêòðîííûìè
ìè ïó÷êàìè, ÿê³ ì³ñòÿòü ïó÷êàìè, ñîäåðæàùèìè íå-
- 6 -
íepoçc³ÿí³ â îá ºêò³ åëåê- ðàññåÿííûå â îáÜåêòå ýëåê-
òðîíè i åëåêòðîíè, ðîç- òðîíû è ýíåêòðîíû, ðàñ-
ñ³ÿí³ â ìåæàõ àïåðòóðíî- ñåÿííûå â ïðåäåëàõ àïåð-
ãî êóòà îá'ºêòèâíî¿ òóðíîãî óãëà îáúåêòèâíîé
ë³íçè ëèíçû
4.2.2 òåìíîôîíîâå çîáðà- de Dunkellichtbild
æåííÿ en dark-field image
fr image de champ sombre
ru òåìíîïîëüíîå èçîáðàæå-
íèå
Çîáðàæåííÿ, ñôîðìîâà- Èçîáðàæåíèå, ñôîðìèðî-
íå ó ïðîñâi÷óâàëüíîìó âàííîå â ïðîñâå÷èâàþùåì
åëåêòðîííîìó ìiêðîñêî- ýëåêòðîííîì ìèêðîñêîïå
ï³ ò³ëüêè ðîçñ³ÿíèìè â òîëüêî ðàññåÿííûìè â îáÜ-
îá'ºêò³ åëåêòðîííèìè åêòå ýëåêòðîííûìè ïó÷êà-
ïó÷êà ìè
4.2.3 ìiêðîäèôðàêöiÿ de Mikrobeugung
en microdefraction
fr microdiffraction
ru ìèêðîäèôðàêöèÿ
Äèôðàêö³éíå çîáðàæåí- Äèôðàêöèîííîå èçîáðà-
íÿ ìàëî¿ ä³ëÿíêè îá'º- æåíèå ìàëîãî ó÷àñòêà
êòà, ñôîðìîâàíå ó çàäí³é îáüåêòà, ñôîðìèðîâàííîå
ôîêàëüí³é ïëîùèí³ â çàäíåé ôîêàëüíîé ïëîñ-
îá'ºêòèâíî¿ ë³íçè çá³ëü- êîñòè îáüåêòèâíîé ëèíçû
øåíå åëåêòðîííèìè ë³í- è óâåëè÷åííîå ýëåêòðîííûìè
çàìè ëèíçàìè
4.2.4 çîáðàæåííÿ