Аппаратура для рентгеноструктурного и рентгеноспектрального анализов. Термины и определения

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

СОЮЗА ССР

АППАРАТУРА

ДЛЯ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО

И РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНОГО

АНАЛИЗОВ

ТЕРМИНЫ И ОПРЕДЕЛЕНИЯ

ГОСТ 16865—79

Издание официальное

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО УПРАВЛЕНИЮ

КАЧЕСТВОМ ПРОДУКЦИИ И СТАНДАРТАМ

Москва

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

АППАРАТУРА ДЛЯ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО

И РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗОВ

Термины и определения
X-ray apparatus for structural and spectral analyses.
Terms and definitions
Дата введения 01.07.80
Настоящий стандарт устанавливает термины и определения понятий в области аппаратуры для рентгеноструктурного и рент­геноспектрального анализов.
Термины, установленные настоящим стандартом, обязательны для применения во всех видах документации и литературы, вхо­дящих в сферу действия стандартизации или использующих ре­зультаты этой деятельности.
Настоящий стандарт должен применяться совместно, с .ГОСТ 16263—70, ГОСТ 25272—82.
1. Стандартизованные термины и определения приведены в табл. 1.
2. Для каждого понятия установлен один стандартизованный термин.
Применение терминов — синонимов стандартизованного терми­на не допускается. Недопустимые к применению термины-сино­нимы приведены в табл. 1 в качестве справочных и обозначены пометой «Ндп.».
2.1. Для отдельных стандартизованных терминов в табл. 1 при­ведены в качестве справочных краткие формы, которые разреша­ется применять в случаях, исключающих возможность их различ­ного толкования.
2.2. Приведенные определения можно, при необходимости, из­менять, вводя в них производные признаки, раскрывая значения используемых в них терминов, указывая объекты, входящие в объ­ем определяемого понятия. Изменения не должны нарушать объ­ем и содержание понятий, определимых в данном стандарте.

2.3. В случае, когда в термине содержатся все необходимые и достаточные признаки понятия, определение не приведено и в графе «Определение» поставлен прочерк.
3. Алфавитный указатель содержащихся в стандарте терминов приведен в табл. 2.
4. Термины и определения общетехнических понятий, необхо­димые для понимания текста стандарта, приведены в приложении (табл. 3).
5. Стандартизованные термины набраны полужирным шрифтом, их краткая форма — светлым, а недопустимые синонимы — кур­сивом.
(Измененная редакция, Изм. № 2).
Таблица 1
Термин
Определение

АППАРАТУРА ДЛЯ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА

Рентгеновский аппарат, предназначен­ный для исследования веществ в по­мощью дифракции рентгеновских лучей в этих веществах
Рентгеновский аппарат для структур­ного анализа, в котором регистрация диф­рагированного рентгеновского излучения осуществляется с помощью дискретных детекторов рентгеновского излучения
Рентгеновский дифрактометр, предназ­наченный для проведения широкого круга исследований методами рентгеноструктур­ного анализа
Рентгеновский дифрактометр, предназ­наченный для проведения специальных ис­следований методами рентгеноструктурно­го анализа
Рентгеновский дифрактометр, предназ­наченный для исследования текстур
Рентгеновский дифрактометр, предназ­наченный для определения механических макронапряжений в исследуемых образ­цах по смещению дифракционных линий
Рентгеновский дифрактометр, предназ­наченный для структурного анализа на малых углах дифракции рентгеновского из­лучения
Рентгеновский дифрактометр, предназ­наченный для исследования образцов в ус­ловиях различных температур и давлений, включая экстремальные, а также в различ­ных средах

Продолжение табл. 1
Термин
Определение
2з. Низкотемпературный рент­геновский дифрактометр
2и. Высокотемпературный рент­геновский дифрактометр
2к. Рентгеновский дифракто­метр для исследоваиия реальной структуры кристаллов на основе детекторов телевизионного типа
2а—2к. (Введены дополнительно,
3. Рентгеновский аппарат для структурного анализа с фотореги­страцией
Рентгеновский дифрактометр, предназ­наченный для исследования образцов пос­редством получения двумерной дифрак­ционной картины на телевизионном экране Изм. № 2).
Рентгеновский аппарат для структурно­го анализа, в котором регистрация диф­рагированного рентгеновского излучения осуществляется с помощью рентгеновской пленки

АППАРАТУРА ДЛЯ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА

Спектрометр ионизирующих излучений, предназначенный для исследования спект­ра величин, характеризующих поле рентге­новского излучения
Рентгеновский спектрометр, предназна­ченный для определения состава веществ по их рентгеновским спектрам
Рентгеновский спектрометр, в котором для исследования спектров используется дифракция излучения на кристалл-анализа- торе
Рентгеновский спектрометр, в котором для исследования спектров используются эффекты, отличные от дифракции.
Примечание. К эффектам, отлич­ным от дифракции, относятся зависимость амплитуды импульсов на выходе дискрет­ного детектора рентгеновского излучения от энергии фотонов, избирательное пог­лощение рентгеновского излучения и т. д.
Бездифракционный рентгеновский спек­трометр, спектральная избирательность ко­торого обеспечивается полупроводниковым детектором
Рентгеновский спектрометр, обеспечива­ющий последовательное исследование рент­геновского спектра в различных его участ­ках
Сканирующий рентгеновский спектрометр, обеспечивающий исследование рентгеновс­кого спектра посредством кристалл-дифрак- ционного элемента
Рентгеновский спектрометр, обеспечива­ющий одновременное исследование рент­геновского спектра в различных его участ­ках
Многоканальный рентгеновский спектро­метр, обеспечивающий исследование рентге­новского спектра посредством нескольких кристалл-дифракционных элементов
Рентгеновский аппарат для спектраль­ного анализа, предназначенный для опреде­ления одного или группы химических эле­ментов
По ГОСТ 19647—74
По ГОСТ 19647—74
Комплекс аппаратуры, состоящий из рентгеновского спектрометра, ЭВМ и ме­тодико-математического обеспечения, поз­воляющий автоматически проводить рен­тгеноспектральный анализ исследуемых материалов

ОСНОВНЫЕ ПАРАМЕТРЫ И ХАРАКТЕРИСТИКИ АППАРАТОВ ДЛЯ

РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО И РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗОВ

Относительное среднее квадратическое отклонение результатов измерения спектро­метром (дифрактометром) плотности пото­ка рентгеновского излучения при нормаль­ных условиях измерения без статистической составляющей погрешности измерения
Отклонение действительного значения угла поворота блока детектирования от за­данного методикой контроля значения
Область угловых перемещений блока детектирования рентгеновского спектро­метра (дифрактометра), для которой оп­ределено допустимое отклонение угловых перемещений от заданного значения

Область угловых перемещений рентге­новской трубки спектрометра (дифракто­метра), ограниченная начальным и конеч­ным значениями шкалы
Повышенная скорость углового переме­щения блока детектирования рентгеновско­го спектрометра (дифрактометра)
Область рабочих углов рентгеновской гониометрической приставки, в которой может быть зарегистрировано рентгенов­ское излучение, рассеянное или дифраги­рованное исследуемым образцом
Угловое перемещение кристаллодержа­теля рентгеновского дифрактометра отно­сительно начала отсчета углов, установ­ленного в НТД на рентгеновский дифрак­тометр конкретного типа
Отклонение действительного углового положения кристаллодержателя от задан­ного значения
Отклонение действительного значения угла поворота кристаллодержателя рент­геновского дифрактометра от заданного значения
Минимальный угол дифракции рентге­новского излучения, начиная с которого рассеянное или дифрагированное излучение может быть отличимо от фона
Область изменения угла наклона иссле­дуемого образца в текстурной приставке
Площадь входного окна детектора рент­геновского излучения спектрометра (диф­рактометра), обеспечивающая попадание квантов рентгеновского излучения внутрь рабочего объема детектора
Изменение в процессе регистрации диф­ракционного максимума положения сцин­тилляционного блока детектирования, од­новременное с изменением углового поло­жения источника рентгеновского излуче­ния или исследуемого образца

Скорость счета импульсов на выходе электронно-регистрирующего устройства спектрометра или спектрометрического ка­нала, настроенного на аналитическую ли­нию данного элемента в измеряемом конт­рольном образце
Отношение выходного сигнала рентге­новского спектрометра (дифрактометра) без фона на образце с известным содержа­нием определяемого элемента к выходному сигналу на образце, не содержащем опре­деляемого элемента
Наименьшее содержание определяемого расчетным способом элемента или компо­нента в образце, которая может быть обна­ружена рентгеновским спектрометром (диф­рактометром) по установленной методике
Угол между плоскостью, касательной к излучающей поверхности, и направлением отбора рентгеновского излучения
Область химических элементов с пре­дельно малым и предельно большим атом­ными номерами, в которой входящие в нее химические элементы могут быть проана­лизированы рентгеновским спектрометром
Максимальное число химических элемен­тов, скорость счета импульсов на аналити­ческих линиях которых может быть за­регистрирована данным спектрометром од­новременно
Наименьшее расстояние в длинах волн между двумя соседними максимумами на спектрограмме, которые наблюдаются над фоном без дополнительной статистической обработки
Наименьший угол поворота или наимень­шее линейное перемещение элементов спек­трометрического устройства сканирующего рентгеновского спектрометра
Давление, измеренное в рабочем объеме рентгеновского спектрометра (дифракто­метра) в установившемся режиме
18а—18д. (Введены дополнительно, Изм. № 2).

Продолжение табл. 1
Термин
Определение
29. Рентгеновский фильтр
Фильтр из поглощающего материала, предназначенный для ослабления или изме­нения спектрального состава рентгеновско-
30. Краевой рентгеновский
фильтр
31. Дифференциальное рентге­новские фильтры
32. Сбалансированные рентге­новские фильтры
33. Ловушка пучка первичного рентгеновского излучения
Ловушка
го излучения
По ГОСТ 19647—74
По ГОСТ 19647—74
По ГОСТ 19647—74
Конструктивный элемент аппарата для рентгеноструктурного и рентгеноспектраль­ного анализов, используемый для поглоще­ния неиспользованного пучка первичного