Микросхемы интегральные цифровые. Методы измерения динамических электрических параметров

ГОСТ 18683.2-83

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ

ЦИФРОВЫЕ

МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ДИНАМИЧЕСКИХ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ

ПАРАМЕТРОВ

Издание официальное

ИПК ИЗДАТЕЛЬСТВО СТАНДАРТОВ

Москва

ИНФОРМАЦИОННЫЕ ДАННЫЕ

1. УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 11.04.83 № 1688
Изменение № 2 принято Межгосударственным Советом по стандартизации, метрологии и сертификации (протокол № 12 от 21.11.97)
Зарегистрировано Техническим секретариатом МГС № 2731
За принятие изменения проголосовали:
Наименование государства
Наименование национального органа по стандартизации
Азербайджанская Республика Республика Армения Республика Беларусь Грузия
Республика Казахстан Киргизская Республика Республика Молдова Российская Федерация Республика Таджикистан
Туркменистан
Республика Узбекистан Украина
Азгосстандарт
Армгосстандарт
Госстандарт Беларуси
Грузстандарт
Госстандарт Республики Казахстан
Киргизстандарт
Молдовастандарт
Госстандарт России
Таджи кгосстандарт
Главная государственная инспекция Туркменистана
Узгосстандарт
Госстандарт Украины

2. ВЗАМЕН ГОСТ 18683-76 (в части п. 3.11)

3. ССЫЛОЧНЫЕ НОРМАТИВНО-ТЕХНИЧЕСКИЕ ДОКУМЕНТЫ

Обозначение НТД, на который дана ссылка
Номер пункта
18683.0-83
Вводная часть

4. Ограничение срока действия снято по протоколу № 3—93 Межгосударственного Совета по стандар­тизации, метрологии и сертификации (ИУС 5-6—93)
5. ИЗДАНИЕ (февраль 2000 г.) с Изменениями № 1, 2, утвержденными в июле 1988 г., августе 1998 г. (ИУС 12-88, 11-98)
Редактор Л. В. Каретникова
Технический редактор Н.С. Гришанова
Корректор Р.А. Ментова
Компьютерная верстка Л.А. Круговой
Изд. лиц. № 021007 от 10.08.95. Сдано в набор 24.01.2000. Подписано в печать 14.03.2000. Усл. печ. л. 0,93.
Уч.-изд. л. 0,75. Тираж 106 экз. С 4667. Зак. 217.
ИПК Издательство стандартов, 107076, Москва, Колодезный пер., 14.
Набрано в Издательстве на ПЭВМ
Филиал ИПК Издательство стандартов — тип. “Московский печатник”, 103062, Москва, Лялин пер., 6.
Плр № 080102

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ ЦИФРОВЫЕ

Методы измерения динамических электрических параметров
Digital integrated circuits.
Methods of measuring dynamic electrical parameters
ОКП 62 3100
Дата введения 01.01.84
Настоящий стандарт распространяется на цифровые интегральные микросхемы (далее — микросхемы) и устанавливает методы измерения динамических электрических параметров мик­росхем.
Общие требования при измерении и требования безопасности — по ГОСТ 18683.0.
(Измененная редакция, Изм. № 1, 2).

1. ИЗМЕРЕНИЕ ВРЕМЕНИ ЗАДЕРЖКИ ВКЛЮЧЕНИЯ

И ВРЕМЕНИ ЗАДЕРЖКИ ВЫКЛЮЧЕНИЯ

1.1. Измерение следует проводить на измерительной установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 1.
1.2. Подготовка к измерениям
1.2.1. Подготавливают измерительную установку к работе.
1.2.2. Подключают микросхему к измерительной установке.
1.3. Проведение измерений
1.3.1. Подают на микросхему напряжение питания от источника G2, входные постоянные напряжения от источника G1 и входные импульсные напряжения от источника G3, значения которых установлены в стандартах или технических условиях (далее — ТУ) на микросхемы конкретных типов.
1.3.2. Интервал времени между входным и выходным импульсами измеряют в соответствии с черт. 2 при значениях уровней отсчета Ц, U2, U3, U4, указанных в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.
Gl, G2 — источники постоянного напряжения; D — микросхема; G3 — генератор импульсного напряжения; Р — измеритель дина­мических параметров; Е — эквивалент нагрузки
Черт. 1
(Измененная редакция, Изм. № 1).
Перепечатка воспрещена
© Издательство стандартов, 1983 © ИПК Издательство стандартов, 2000
1.4.
1.5. Показатели точности из­мерения
1.5.1. Погрешность измерения времени задержки включения и времени задержки вы­ключения должна быть в пределах:
±10 % — для интегральных микросхем со средним временем задержки распространения 5 нс и более;
±15 % — для интегральных микросхем со средним временем задержки распространения от 1,0 до 5,0 нс;
±20 % — для интегральных микросхем со средним временем задержки распространения от 1,0 нс и соответствовать установленной в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.
1.5.2. Доверительную вероятность по­грешности измерения выбирают из ряда: 0,950; 0,990; 0,997. Конкретное значение доверитель­ной вероятности устанавливают в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.
1.5.3.
1.5.4. Границы интервала погрешности измерения времени задержки включения и вре­мени задержки выключения 8 определяют по формуле где а1л а2л а3г> а4г ~ относительные коэффициенты влияния соответственно фронта, спада, высо­ты и длительности входного импульса на г-м входе на измеряемый параметр;
ai> ао ~ относительные коэффициенты влияния уровня отсчета соответственно на входном и выходном импульсе на измеряемый параметр;
а, — относительный коэффициент влияния напряжения питания на 1-м выводе питания на измеряемый параметр;
dj — относительный коэффициент влияния постоянного напряжения на у-м входе на измеряе­мый параметр;
ак — относительный коэффициент влияния параметра к-то элемента нагрузки на измеряемый параметр;
• относительный коэффициент влияния температуры окружающей среды или температуры в заданной точке на корпусе (теплоотводе) микросхемы на измеряемый параметр;
• относительный коэффициент влияния временной нестабильности сдвига входного им­пульса на w-м входе относительно входного импульса на v-м входе на измеряемый параметр;
81л 82л 83г> 34г — относительные погрешности установления и поддержания соответственно фронта, спада, высоты и длительности входного импульса на г-м входе;

8/, 6(9 — относительная погрешность установления и поддержания уровня отсчета соответ­ственно на входном и выходном импульсе;
5/ — относительная погрешность установления и поддержания напряжения питания на z-м выводе питания;
Sy — относительная погрешность установления и поддержания постоянного напряжения на у-м входе;
8^ — относительная погрешность установления и поддержания параметра £-го элемента на­грузки;
Зр — относительная погрешность измерителя динамических параметров;
35 — относительная погрешность временной нестабильности фронта (спада) входного импульса;
бу- — относительная погрешность установления и поддержания температуры окружающей среды или температуры в заданной точке на корпусе (теплоотводе) микросхемы;
8VIV — относительная погрешность временной нестабильности сдвига входного импульса на w-м входе относительно входного импульса на v-м входе;
8Г — относительная погрешность, обусловленная неучтенным х-м источником погрешности;
К, КХг, К2г, К3г, КАг, К], К; Kj, Kk, Ко, Кр, Ks, Ку,
Kvw, Кх — коэффициенты, зависящие от закона распределения соответствующей погрешности 3, 3ir 32л 83r 34r, Sy, 8Z, 8у, 8к, 8(9, ё>р, 85, 87, 8W, 8хи доверительной вероятности;
/ — число выводов питания;
т — число входов, на которые подают постоянное напряжение;
п — число элементов нагрузки;
Z — число входов, на которые подают импульсное напряжение.

2. ИЗМЕРЕНИЕ ВРЕМЕНИ ЗАДЕРЖКИ РАСПРОСТРАНЕНИЯ СИГНАЛА

ПРИ ВКЛЮЧЕНИИ И ВРЕМЕНИ ЗАДЕРЖКИ РАСПРОСТРАНЕНИЯ СИГНАЛА

ПРИ ВЫКЛЮЧЕНИИ

2.1. Аппаратура — по п. 1.1.
2.2. Подготовка к измерениям — по п. 1.2.
2.3. Проведение изме­рений
2.3.1. Подают на микросхему на­пряжения питания от источника G2 входные постоянные напряжения от источника G1, входные импульсные напряжения от источника G3, значе­ния которых установлены в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.
2.3.2. Интервал времени между входным и выходным импульсами из­меряют в соответствии с черт. 3 при значениях уровней отсчета Ц, U2, ука­занных в стандартах или ТУ на мик­росхемы конкретных типов.
(Измененная редакция, Изм. № 1).
2.3.3. (Исключен, Изм. № 1).
2.4.
2.5. Показатели точности изме­рения — по п. 1.4.

3. ИЗМЕРЕНИЕ ВРЕМЕНИ ПЕРЕХОДА ПРИ ВКЛЮЧЕНИИ

И ВРЕМЕНИ ПЕРЕХОДА ПРИ ВЫКЛЮЧЕНИИ

3.1. Аппаратура — по п. 1.1.
3.2. Подготовка к измерениям — по п. 1.2.
3.3. Проведение измерений
3.3.1. На микросхему подают напряжения питания от источника G2, входные постоянные напряжения от источника G1 и входные импульсные напряжения от источника G3, значения которых установлены в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.
3.3.2. Интервал времени измеряют в соответствии с черт. 4 между моментами достижения выходным напряжением уровней отсчета U2, значения которых указаны в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.

1 — входное напряжение; 2 — выходное напряжение (инвертирующая микросхе­ма); 3 — выходное напряжение (неинвертирующая микросхема); U2 — уровни отсчета; tl>° — время перехода при включении; Г’1 — время перехода при выклю­чении

Черт. 4
(Измененная редакция, Изм. № 1).
3.4. Показатели точности измерения
3.4.1. Погрешность измерения времени перехода при включении и времени перехода при выключении — по п. 1.4.1.
3.4.2. Доверительная вероятность погрешности измерения — по п. 1.4.2.
3.4.3. Границы интервала погрешности измерения времени перехода при включении (времени перехода при выключении) 8Т определяют по формуле

где oj, д2 “ относительные коэффициенты влияния фронта (спада) выходного импульса соответственно в 1 и 2-й точках отсчета на измеряемый параметр;
3.4.4. і , 32 — относительная погрешность установления и поддержания уровня отсчета на выходном импульсе соответственно в 1 и 2-й точках отсчета на измеряемый параметр;
Ку, К± — коэффициенты, зависящие от закона распределения соответствующих погрешностей 8], 32 и доверительной вероятности;
остальные обозначения — см. формулу (1).

4. ИЗМЕРЕНИЕ МАКСИМАЛЬНОЙ ТАКТОВОЙ ЧАСТОТЫ

4.1.
4.2. Измерения следует проводить на измерительной установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 5.
4.3. Подготовка к измерениям — по п. 1.2.
4.4. Проведение измерений
4.4.1. Подают на микросхему напряжения питания от источника G2, входные постоянные напряжения от источника G1 и входные импульсные напряжения от источника G3, значения которых установлены в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.
4.4.2. Измеряют частоту следования импульсо