Лампы электронные маломощные. Методы измерения параметров. Общие положения

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

СОЮЗА ССР

ЛАМПЫ ЭЛЕКТРОННЫЕ

МАЛОМОЩНЫЕ

МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ.

ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ

ГОСТ 19438.0-80

Издание официальное '

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО СТАНДАРТАМ

Москва

УДК 621.385.026441.089.5 :006.354

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

ЛАМПЫ ЭЛЕКТРОННЫЕ МАЛОМОЩНЫЕ

Методы измерения параметров.
Общие положения
Low powered electronic tubes. Method of measurements
of parameters. General principles
Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 24 марта 1980 г. № 1313 срок действия установлен
с 01.07 1981 г. до 01.07 1986 г>
Несоблюдение стандарта преследуется по закону
Настоящий стандарт распространяется на электронные усили­тельные, выпрямительные и генераторные лампы мощностью, про­должительно рассеиваемой анодом, до 25 Вт (далее — лампы).
Стандарт входит в комплекс государственных стандартов на методы измерения электрических параметров электронных мало­мощных ламп и устанавливает положения, общие для этого комп­лекса.

1. ОБЩИЕ ТРЕБОВАНИЯ

1.1. Требования к методам измерения электрических парамет­ров ламп должны соответствовать настоящему стандарту, а также стандартам на конкретные методы измерений.
1.2. Выбор метода измерения электрических в соответствии со стандартами или техническими лампы конкретных типов.
1.3. Условия измерения должны быть указаны в стандартах или технических условиях на лампы конкретных типов. чВ случае отсутствия таких данных электрические параметры измеряют в нормальных климатических условиях по ГОСТ 16962—71.
Перепечатка воспрещена
@ Издательство стандартов, 1980
1.4. Электрические параметры ламп измеряют в режимах, установленных в стандартах на методы измерений, а также в стандартах или технических условиях на лампы конкретных типов.
1.5. Показатели точности измерений электрических параметров .ламп устанавливаются в стандартах на конкретные методы изме­рений.

2. АППАРАТУРА

2.1. Требования к измерительным установкам и установкам предварительной подготовки (прогрева) ламп
2.1.1. Установки должны соответствовать требованиям настоя­щего стандарта, а также требованиям, указанным в стандартах на методы измерения конкретных параметров ламп.
2.1.2. Установки должны подвергаться ведомственной поверке по ГОСТ 8.002—71.
2.1.3. Электрические схемы измерительных установок приведе­ны в стандартах на конкретные методы измерения электрических параметров ламп.
2.1.4. Электрические схемы установок должны иметь общую точку.
2.1.4.1. Общей точкой схемы для ламп с катодом прямого накала должны быть:
при питании нити накала от источника постоянного тока — вывод накала, подсоединенный к отрицательному полюсу этого источника;
при питании нити накала от источника переменного тока — средняя точка этого источника (обмотки трансформатора делите­ля напряжения) или средняя точка нити накала, если такая точка имеет специальный вывод.
Средняя точка обмотки трансформатора или делителя напря­жения должна выбираться таким образом, чтобы асимметрия на­пряжений’ не превышала 20% напряжения накала ламп.
Сопротивление делителя напряжения должно быть таким, что­бы потребляемый ток был не менее двадцатикратного значения тока ка/ода испытываемой лампы.
2.1.4.2. Общей точкой схемы для ламп с катодом косвенного накала должен быть вывод катода лампы. В этом случае, как правило, к общей точке подсоединяется один из выводов нити накала испытываемой лампы.
При автоматическом смещении напряжения управляющей сет­ки испытываемой лампы общей точкой должен быть противопо­ложный подсоединенному к ее катоду вывод рйзистора /?к, с кото­рого подается это напряжение.
2.1.4.3. Общая точка схемы должна быть соединена с корпу­сом установки. Значение и полярность напряжений, подаваемых на электроды испытываемой лампы, определяют относительно об­щей точки этой схемы.
2.1.4.4. Выводы электродов ламп (вывод металлического бал­лона, вывод металлизации, вывод внутреннего экрана) с нуле­вым потенциалом относительно корпуса установки, если они не соединены внутри лампы с каким-либо другим электродом, долж­ны быть присоединены к общей точке схемы. Антидинатронная сетка при наличии у нее отдельного вывода подсоединяется в со­ответствии с требованиями, указанными в стандартах или техниче­ских условиях на лампы конкретных типов.
2.1.5. При автоматическом смещении напряжения управляю­щей сетки испытываемой лампы значение сопротивления резис­тора /?к, включенного в цепь катода схемы установки, не должно отличаться от заданного более чем на ±1%. В случае протекания переменных токов через катод этот резистор шунтируется конден­сатором, емкостное сопротивление Хо каторого на частоте источ­ника переменного тока должно удовлетворять условию
Хо<0,01 /?к,
где 7?к— сопротивление резистора, Ом.
2.1.6. Если при измерении тока и напряжения накала испыты­ваемой лампы через амперметр протекает ток вольтметра, то па­дение напряжения на участке вольтметр—ламель панели накала лампы не должно превышать 0,2% значения напряжения накала, а ток, протекающий через вольтметр, не должен превышать 0,5% значения тока накала.
Если при Измерении тока и напряжения накала испытываемой лампы вольтметр определяет напряжение, в состав, которого вхо­дит падение напряжения на амперметре, то падение! напряжения на участке вольтметр— ламель панели лампы не должно превы­шать 1 % значения напряжения накала.
При измерении других параметров испытываемой лампы вольт­метр, .определяющий напряжение накала, должен подключаться таким образом, чтобы падение напряжения на участке вольт­метр— ламель панели лампы не превышало 2,5% максимального значения напряжения накала.
В случае превышения этих значений в результат измерений то­ка и напряжения накала испытываемой лампы должны быть вне сены соответствующие поправки.
2.1.7. Конструкция установок должна быть такой, чтобы при подготовке и испытании ламп исключалась возможность возникно­вения паразитной генерации.
Для этого в состав схемы включаются следующие вспомога­тельные элементы:
резисторы и дроссели, соединенные последовательно и разме­щаемые непосредственно у выводов испытываемой лампы;
конденсаторы, образующие цепь между выводом одного из электродов и. катода или общей точкой схемы, а также между лю­бой парой выводов электродов;
резисторы и конденсаторы, соединенные последовательно и об­разующие цепь между электродами ламп;
фильтры, развязывающие источники питания;
кольца из ферромагнитных материалов, надеваемые на монтаж­ные провода и т. д.
Дополнительное включение в схему вспомогательных элементов не должно вносить существенных изменений в условия измерения и влиять на точность измерения.
В установках предварительного прогрева испытываемых ламп рекомендуется применять специальные устройства, сигнализирую­щие о возникновении паразитной генерации.
2.1.8. Падение напряжения на измерительных приборах, элемен­тах защитных устройств и вспомогательных элементах при питании электродов от источников постоянного тока не должно превышать' 0,5% максимального значения напряжения соответствующего электрода, имеющего положительный потенциал относительно ка­тода. • Wi
Для цепи анода тетрода, пентода и многосеточ'ных ламп паде­ние напряжения на приборах и элементах схемы установки не дол­жно превышать 1,5% максимального значения напряжения анода испытываемой лампы.
Указанные падения напряжений не учитываются при установ­лении режимов измерения и отсчете электрических1 параметров ис­пытываемых ламп.
В случае превышения этих значений следует применять схемы, обеспечивающие постоянство электродных напряжений При измене­нии их токов за счет стабилизации напряжений непосредственно на электродах испытываемых ламп. '
Рели в цепях второй сетки и анода испытываемой лампы в схе­ме измерительной установки имеется резистор, то сопротивление этого резистора не должно отличаться от его номинального значе­ния более чем на ± 1 %.
2.1.9. Схема измерительных установок, работающих в режиме предварительного прогрева, должна отвечать следующим требова­ниям;
значения сопротивлений резисторов в цепях электродов, ламп «е должно отличаться от заданных значений:
в цепи катода — на ±5%;
в цепи других электродов — на ±10%; _
антидинатронная сетка, имеющая отдельный вывод, должна быть подключена к катоду испытываемой лампы;
в цепь катода испытываемой лампы (группы ламп) или цепи других электродов, имеющих положительный потенциал, а также в цепь источника питания участка катод:— подогреватель должны •быть последовательно подключены буферные лампы накаливания или другие устройства, защищающие эти цепи от перегрузок.
Суммарное падение напряжения на защитных устройствах, воз­никающее за счет прохождения по ним электродных токов, должно составлять не более 5% значения напряжения одного электрода. Указанное падение напряжения не учитывается при установлении режима предварительного прогрева. В случае превышения этих значений при установлении режима предварительного прогрева должна быть внесена соответствующая поправка.
2.1.10. Конструктивное расположение и закрепление измери­тельных приборов должно, быть таким, чтобы на их показания не оказывали влияние внешние электрические и магнитные поля, а также находящиеся вблизи .них стальные массы.
2.1.11. Конструкция установок должна быть такой, чтобы обес­печивались условия, охлаждения, рабочая температура не влияла на показания измерительных приборов, а блоки и элементы уста­новок не зависели в температурном отношении друг от друга.
2.1.12. Конструкция установок, предназначенных для эксплуа­тации в условиях вибрации и толчков, должна предусматривать амортизацию отдельных блоков или всей установки!-
2.1.13. Монтаж установок и прочность крепления ее отдельных элементов должны обеспечивать их сохранность при транспорти­ровании.
Указанные требования не относятся к креплению тех элемен­тов блоков, которые при транспортировании извлекаются из уста­новки.
2.1.14. Конструкция измерительной установки может допус­кать измерение одного или .нескольких электрических параметров ■одного или нескольких типов ламп и иметь сменные блоки, а так­же совмещать обеспечение режима предварительного прогрева и