Микромодули этажерочной конструкции. Методы измерения электрических параметров

государственный стандарт

СОЮЗА ССР »

МИКРОМОДУЛИ

ЭТАЖЕРОЧНОЙ КОНСТРУКЦИИ

ДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ

ГОСТ 20281-74

Издание официальное

ИЗДАТЕЛЬСТВО СТАНДАРТОВ

Москва
Редактор А. Л. Владимиров
Технический редактор О. Н. Никитина
Корректор Е. Ю. Гебрук
Сдано в наб. 24.05.94. Подл, в печ. 11.07.94, Уся. п. я. 2,79. Уся. кр.-отт. 2,79.
Уч.-изд. л. 2,95. Тир. 232 экз. С 1512.
Ордена «Знак Почета» Издательство стандартов, 107076, Москва, Колодезный пер., 14.
Калужская типография стандартов, ул. Московская, 256. Зак. 1040
УДК 621.396.6.083.8:006.354 Группа Э29

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

МИКРОМОДУЛИ ЭТАЖЕРОЧНОЙ КОНСТРУКЦИИ

Методы измерения электрических параметров
20281—74*
Micromodules of stacked and spacked construction. Measuring methods of electrical characteristics
Дата введения 01.01.76
Ограничение срока действия снято по протоколу Межгосударственного совета по стандартизации, метрологии и сертификации (ИУС 2—93)
Настоящий стандарт распространяется на микромодули эта- жерочной конструкции (далее — микромодули) и устанавливает методы измерения электрических параметров микромодулей.
Стандарт применять только для микромодулей, изготавливае­мых для ЗИП, ремонта аппаратуры, находящейся в эксплуатации, а также для комплектования аппаратуры старых разработок, ТЗ на которые утверждены до 01.01.82.
Настоящий стандарт не распространяется на микромодули, представляющие собой сборки микроэлементов и имеющие элект­рические параметры, свойственные микроэлементам.
(Измененная редакция, Изм. Ks 1).

1. ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ

1.1. Измерительные установки, предназначенные для измере­ния электрических параметров, должны соответствовать требова­ниям ГОСТ 22261—82 и требованиям настоящего стандарта.
Издание официальное Перепечатка воспрещена
★
(Є) Издательство стандартов, 1974
© Издательство стандартов, 1994
* Переиздание (май 1994 г.) с Изменением № 1, утвержденным в сентябре 1990 г. (ИУС 12—90)
1.2. Измерительные установки должны обеспечивать электри­ческие режимы и погрешности измерения параметров микромо­дулей, установленные в стандартах на микромодули конкретных типов 1.
1.3. В автоматизированных и полуавтоматизированных уста­новках допускается для контроля параметров применение изме­рительных приборов с отсчетом по принципу «годен — негоден».
1.4. Измерительные установки должны предусматривать за­щиту микромодулей от воздействия статического электричества и возникновения паразитной генерации.
1.5. Количество однотипных измерительных приборов, указан­ных в структурных схемах настоящего стандарта, может быть изменено путем соответствующей коммутации, при этом погреш­ность измерения или контроля параметров должна находиться в пределах, указанных в стандартах на микромодули конкретных типов.
1.6. В целях автоматизации измерений в качестве переключа­ющих устройств могут применяться любые коммутирующие эле­менты, обеспечивающие измерение с погрешностью, не превыша­ющей значений, указанных в стандартах на микромодули конк­ретных типов.
1.7. Сопротивления нагрузки, указанные в структурных схе­мах, могут быть активными, реактивными и комплексными: конк­ретные значения их устанавливают в стандартах на микромоду­ли конкретных типов.
Емкость и индуктивность монтажных проводов, испытатель­ных зажимов и измерительных приборов, подключенных к выхо­ду микромодуля, учитывают при расчете реактивной нагрузки.
1.8. Если в настоящем стандарте приведено несколько мето­дов измерения данного параметра, то при выборе метода следует руководствоваться указаниями о точности и области применения каждого метода, а также соображениями удобства компоновки •общей схемы измерительной установки на основе приводимых в стандарте структурных схем измерения отдельных параметров.
1.9. Для измерения параметров микромодулей конкретных ти­пов структурные схемы, приведенные в настоящем стандарте, до­полняют необходимыми элементами, указанными в стандартах на микромодули конкретных типов. При этом разделительные кон­денсаторы во входной (С1) и выходной (С2) цепях применяют в случае, когда вход и выход микромодуля не должны иметь галь­ванического соединения с общим выводом.
Величины емкостей Cl, С2 выбирают из соотношений:
2л/СЇ 2л/С2
где Rbx — входное сопротивление микромодуля, Ом;
—нагрузочное сопротивление микромодуля, Ом;
f —частота, на которой производится измерение пара­метра, Гц.
1.10. Конкретные значения величин электрических элементов,, типы измерительных приборов и источников питания, приведен­ных в структурных схемах настоящего стандарта, указывают в- стандартах на микромодули конкретных типов.
1.11. Требования к измерительным установкам в части погреш­ности измерения, формулы расчета погрешности измерения при­ведены в приложении 1.
1.12. Значения погрешности измерения конкретного электри­ческого параметра указывают в стандартах на микромодули конкретных типов.
1.13. Режим работы микромодуля при измерении параметров! должен соответствовать указанному в стандартах на микромоду­ли конкретных типов.
2. МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ, ИМЕЮЩИХ РАЗМЕРНОСТЬ НАПРЯЖЕНИЯ (класс 10002)
2.1. Метод 1800. Измерение амплитуды прямо­угольного импульса U3
2.1.1. Аппаратура
2.1.1.1. Измерение амплитуды прямоугольного импульса про­изводят на установке, структурная схема которой приведена на черт. 1.

нагрузка; осциллограф или измеритель напряжений и временных параметров
Черт. 1

2.1.2. Подготовка к измерению и проведение измерений
2.1.2.1. Подготавливают установку для измерения в соответст­вии со схемой черт. 1 и устанавливают режимы работы испытыва­емого микромодуля в соответствии СП. 1.13.
2.1.2.2. Амплитуду прямоугольного импульса измеряют по изо­бражению импульса на экране осциллографа (черт. 2) как напря­жение между начальным уровнем (установившееся значение по­тенциала в отсутствии импульса) и уровнем, проходящим через точку пересечения продолжения плоской вершины импульса с его •фронтом (точка А на черт. 2).
Параметры прямоугольного импульса

2.1.2.3. Параметры прямоугольного импульса, приведенные на чертеже, являются параметрами выходных импульсов измеритель­ных приборов, которые подаются на вход испытуемого микромо­дуля, определяя режим испытания, либо являются параметрами выходных импульсов испытуемого микромодуля.
2.2. Метод 1805. Измерение средней амплитуды прямоугольного (/Ср
2.2.1. Аппаратура — по п. 2.1.1.
2.2.2. Подготовка к измерениям — по п. 2.1.2.1.
2.2.3. Проведение измерений
2.2.3.1. Среднюю амплитуду прямоугольного импульса изме­ряют по изображению выходного импульса на экране осциллогра­фа (черт. 2) как напряжение между начальным уровнем и уров­нем, проходящим через точку плоской вершины, соответствующую середине длительности импульса (точка В на черт. 2).
2.3. Метод 1810. Измерение выброса фронта пря­моугольного импульса (Уві
2.3.1. Аппаратура — по п. 2.1.1.
2.3.2. Подготовка к измерениям — по п. 2.1.2.1.
2.3.3. Проведение измерений
2.3.3.1. Выброс фронта прямоугольного импульса измеряют по изображению импульса на экране осциллографа (черт. 2) как на­пряжение между уровнем, проходящим через точку пересечения продолжения плоской вершины импульса с фронтом (точка А на черт. 2) и уровнем, проходящим через вершину выброса фронта импульса.
2.4. Метод 1815. Измерение выброса среза пря­моугольного импульса ив2
2.4.1. Аппаратура — по п. 2.1.1.
2.4.2. Подготовка к измерениям — по п. 2.1.2.1.
2.4.3. Проведение измерений
2.4.3.1. Выброс среза прямоугольного импульса измеряют по изображению импульса на экране осциллографа (черт. 2) как на­пряжение между начальным уровнем и уровнем, проходящим через вершину выброса среза импульса.
2.5. Метод 1820. Измерение скола вершины пря­моугольного импульса — А (У
2.5.1. Аппаратура — по п. 2.1.1.
2.5.2. Подготовка к измерениям — по п. 2.1.2.1.
2.5.3. Проведение измерений
Скол вершины прямоугольного импульса измеряют по изобра­жению импульса на экране осциллографа (черт. 2) как напряже­ние между уровнем, проходящим через точку пересечения продол­
жения плоской вершины импульса с его фронтом (точка А на черт. 2) и уровнем, проходящим через точку пересечения продол­жений плоской вершины импульса и его среза (точка Б на черт. 2).
2.6. Метод 1825. Измерение минимальной ампли­туды запускающих импульсов—f/3an. min
2.6.1. Аппаратура — по п. 2.1.1.
2.6.2. Подготовка к измерениям — по п. 2.1.2.1.
2.6.3. Проведение измерений
2.6.3.1. На вход микромодуля подают импульсы, плавно увели­чивая их амплитуду от нуля. Наименьшее значение амплитуды импульсов на входе микромодуля, при котором на экране осцил­лографа, подключенного к выходу микромодуля, появится устой­чивый импульс с параметрами, указанными в стандартах на мик­ромодули конкретных типов, будет являться минимальной ампли­тудой запускающих импульсов.
2.7. Метод 1830. Измерение максимальной ам­плитуды запускающих импульсов t/3an. max.
2.7.1. Аппаратура — по п. 2.1.1.
2.7.2. Подготовка к измерениям — по п. 2.1.2.1.
2.7.3. Проведение измерений
2.7.3.1. На входе микромодуля плавно увеличивают амплитуду запускающих импульсов от значения минимальной амплитуды. Наибольшее значение амплитуды импульсов на входе микромоду­ля, при котором на экране осциллографа, подключенного к выхо­ду микромодуля, наблюдается осциллограмма с искажением, не превышающим норм, указанных в стандартах на микромодули конкретных типов, будет являться максимальной амплитудой за­пускающих импульсов.
2.8. Метод 1835. Проверка гарантируемой амп­литуды запускающих импульсов t/aan.r.
2.8.1. Аппаратура — по п. 2.1.1.
2.8.2. Подготовка к измерениям — по п. 2.1.2.1.
2.8.3. Проведение измерений
2.8.3.1. При подаче на вход микромодуля наибольшего допу­стимого значения минимальной амплитуды запускающих импуль­сов, указываемого в стандартах на микромодули конкретных ти­пов, на экране осциллографа, подключенного к выходу микромо­дуля, должен наблюдаться устойчивый импульс с параметрами, указанными в стандартах на микромодули конкретных типов.
2.9. Метод 1840. Проверка диапазона гаранти­руемых амплитуд запускающих импульсов Дш.г..
2.9.1. Аппаратура — по п.