Контроль неразрушающий. Аппараты рентгеновские для промышленной дефектоскопии. Общие технические условия

Non-destructive testing.
X-ray apparatus for industrial flaw detection.General specifications
( 1. 1.1. 1.2.

1.3. 2. 2.1. 2.2. 2.1 ; 2.2. ( 2.3. 2.4. 2.5.

100 10 10 5
5 2 • 6 20
20
15
10
10 25
15
13
10
5
4 15
15
10
5
4
3 10
8
6
4
2 5 7
5 1 3 6
4
I 1. 2.
2.6. 3. 3.1. 3.1.1. 3.2. 3.2.1. ( 3.2.2. 3.3. 3.3.1.

5,0 2,0
1,0 ( 3.3.2. ( 3.3.3. ( 3.4.1.

3.4.2. 3.5. 3.6. 3.7. 3.6; 3.7. ( 3.8. 3.9.

3.10. ( 3.11. 3.12. 3.13. 3.14. 3.12—? 3.14. ( 3.15. ( 3.16. ( 3.17. ( З?.Г?8. 3.19. 3.20 3.21. ( 3.22. 3.22.1. 3.22.2. 3.22.3.

3.22.4. ( 3.22.5. 3.23. 3.24. 3.23; 3.24. ( 3.25. 3.25.1. 1. 2,

3.25.2.
3.25.1 ; 3.25.2. ( 3.25.3. 3.25.4. 3.26. 3.26.1. ( 3.26.2. 3.26.3. 3.26.4. 3.26.3; 3.26.4. ( 3.26.5. 30 30—50 3.27. 3.27.1. 3.27.2. 3.27.1; 3.27.2. ( 3.28. 3-29.

( 3.30. 3.30.1. 3.30.2. ■? 3.30.3. 3.30.4. ( 3.30.5. ( 4. 4.1. 4.1.1. 4.1.2. ( 4.1.3. 4.1.4. 4.1.5. 4.1.6. 4.1 5; 4.1.6. ( 4.1.7. 4.1.8 4.1.9. 4.2. 4.2.1. 4.2.2. 4.2.1; 4.2.2. ( 4.2.3. 4.2.4. ( 4.2.5. 4.2.6. ( 4.3. 4.4. 4.5. 4.6. 4.7. 5. 5.1. 6. 6.1. 6.2. 6.3. 6.4. 6.2—? 6.4. ( 6.4.1. 6.5. 6.6. 6.6.1. 7. 7.1. 7.2. ( 7.3. 7.4. ( 7.5. 7.6. ( 7.7.

7.8. 7.9. 7.10.

Di — D —■? —_ 1 5
( 7.11. 7.12. to — ■? ( 7.13. 7.14. 7.15. 7.16. 7.17. 7.18. 7.19. 7.20. 7.21. ( 7.22. 7.23.

7.24. 7.25. 7.23—? 7.25 ( 7.26. 7.27. 8. 8.1. 8.1.1. 8.1.2. 8.1.3. 8.1.4. 8.1.5. ( 8.1.6. 8.1.7. 8.1.8. 8.1.9.

8.2. 8.2.1. 8.2.2. ( 8.2.3. 8.2.4. 8.3. 8.3.1. 8.3.2. 9. 9.1. 9.2. 10. 10.1. 10.2.

1. 2. 3. 4, 5.

6. 7.