Детекторы ионизирующих излучений полупроводниковые. Методы измерения параметров

2 170 переглядів

Зберегти

Завантажити документ

Формат .docx · доступно зареєстрованим користувачам

Увійти та завантажити

Текст документа

lonizing-radiation semiconductor detectors.Methods of parameters measurement

1. 1.1. 1.1.1. ( 1.1.2. 1.1.3. 1.1.4. 1.2. 1.2.1. 1.2.2. 1.2.3. 1.2.4. 1.2.5. 1.2.5.1. 1.2.5.2. 1.2.5.3. 1.2.5.4. 1.2.6. 1.2.7.
BD— ( ’- /?>2-10 8 KTz , (2)
X —
1 ^
U a — £?

1.2.8. ^=(0,75 / 2 =

1.2.9. 1.2.10. 1.2.11. 1.2.11.1. 1.2.11.2.
_ 0—
2 1 / , (6)
pi — 1.2.11.3.

h a — 1.2.11.4.

1.2.11.5. 1.2.11.6. 1.2.11.7. 1.2.11.8. 1.2.11.4) ( 1.2.11.9. 0,7- 1
. — ( — fp-cp— t — 2. 2.1. 2.1.1.

X— 2.1.2. I , 2.1.3. 2.2. 2.2.1. 2.2.2. 2.2.3. 2.2.4. 2.3. 2.3.1. 3. 3.1. 3.2. 3.2.1. 3.2.1.1.

3.2.1.2. 3.2.1.3.

3.2.1.4. 3.2.1.5. 3.2.2. 3.2.2.1. 3.2.2.2. 3.2.2.3. 3.2.2.4. 3.2.3. 3.2.3.1. 35 <
3.3. 3.3.1. 3.3.1.1.
G1 — 3.3.1.2. 3.3.1.3. /?/<2-10 5 -^—, (11)
3.3.1.4. 3.3.1.5. 3.3.1.6. 3.3.1.7. 3.3.2. 3.3.2.1. 3.3.2.2. 3.3.2.3 3.3.2.4. 3.4. 3.4.1. 4. 4.1. 4.1.1. 4.1.2.
/—
4.1.3. 4.1.4. % — 8 4.1.5. 4.1.6. 4.1.7. 4.1.8. 4.1.9. 4.2. 4.2.1. 4.2.2. 4.2.3. 4.2.4. 4.2.5. 4.2.6. 4.2.7. 4.3. 4.3.1. . (14)
N 2 nT . u -Nl , (15)
N Q — 4.4. 4.4.1. 4.4.2. —4 / 2500
V '

NK. V N 2 -N 2

5. 5.1. 5.2. 5.2.1. 5.2.1.1. 5.2.1.2. 5.2.1.3.

X— 5.2.2. 5.2.2.1.
R. K —
0 — 0 = 6,4 100

U K — U o — 5.2.2.2. 5.2.2.3. 5.2.2.4. 5.2.3. 5.2.3.1. (21)
• (22)
5.2.4. 5.2.4.1. 5.2.4.2. £? 5.3. 5.3.1. 5.3.2.1. 5.3.2. 5.3.2.1. 5.3.2.2. 5.3.2.3. 5.3.2.4. 5.3.2.5. 5.3.3. 5.3.3.1. £? N„ — £? 5.3.4. 5.3.4.1. 6. 6.1. 6.1.1. 6.1.2. 6.1.3. 6.2. 6.2.1. 6.2.2. 6.2.3. 6.2.4. 6.2.5. 6.3. 6.3.1. 6.4. 6.4.1. 7. 7.1. 7.1.1. 7.1.2.
/— PN—
1,2; 1, 4,0; 4,51; 5,0; 6,0; 7,5; 1,1 Qmax
Q 7.1.3. 7.1.4. 7.1.5. 7.1.6. 7.2. 7.2.1.
(28)
7.2.2. 7.2.3. 7.2.4. 7.2.5. 7.2.6. 7.3. 7.3.1.
7.4. 7.4.1. 7.4.2. 8 8. 8.1. 8.2. 8.2.1. 8.3. ?. 9.1. 9.2. 9.3. 9.3.1. / 9.4. 9.4.1. 10. 10.1. 10.2. 10.2.1. 10.3. 10.3.1. 10.3.2. 6 11. 11.1. 11.2. 11.2.1. 11.2.1.1.

/— 11.2.1.2. 11.2.1.3. 11.2.1.4. 11.2.1.5. 11.2.6. 11.2.1. 7. 11.2.2. 11.2.2.1. 11.2.2.2. 11.2.2.3. 11.2.2.4. 11.2.2.5. 11.2.2.6. 11.2.3. 11.2.3.1. (35)
/„ — 11.2.3.2. (36)
/ 11.2.4. 11.2.4.1. 11.2.4.2.

11.3. 11.3.1. 11.3.1.1. 11.3.1.2.
I—
21 % — ^ 2 - 11.3.1.3 . 11.3.1.4 . 11.3.1.5 . 11.3.1.6 . 11.3.2. 11.3.2.1. 11.3.2.2. 11.3.2.3. 11.3.2.4. 11.3.3. 11.3.3.1. 2 2 Z — 11.3.4. 11.3.4.1. 11.3.4.2.

N — 12. 12.1. 12.1.1. 12.2. 12.2.1. 12.2.2. 12.2.3.

R — R y — t n — 12.2.4. 12.2.5. 12.3. 12.3.1. 12.3.2. 12.3.3. 12.3.4. 12.4. 12.4.1. * (^. t u — SHSyW (45)
12.4.2. 12.5. 12.5.1. 13. 13.1. 13.1.1. 13.1.2. 13.1.3. 13.1.4. 13.2. 13.2.1. 1. 2. L —

At — (

20
3000 250 1
2
4
8
16

26,4 (2,4) 32,8 (7) 30,18 655,7 (1,2) 136,5 (10,7) 0,74 2274 (100) 28,7 1332,5 (100) 5,27 1. 1.1. 1.1.1. 1.2. 1.2.1. 1.2.2. 1.3. 1.3.1. t/ r =x^- % — 1.3.2, 1.3.3. |£? 10 -£? 30 |>3£? £? 1.4. 1.4.1. 1.5. 1.5) Ij. 2. 2.1. 2.1.1. 2.1.2. 2.2. 2.2.1. 2.2.2. 2.3. 2.3.1. 2.3.2. 2.4. 2-4.1. 2.5. 2.5.1.
1 J W Sv

Схожі документи

ГОСТ 22558-89 Язык программирования КОБОЛ ГОСТ 4401-81 Атмосфера стандартная. Параметры ГОСТ 17381-84 Калибры для упорной резьбы. Исполнительные размеры ГОСТ 5306-83 Пиломатериалы и заготовки. Таблицы объемов ГОСТ 25158-82 Протяжки для шлицевых отверстий с эвольвентным профилем диаметром от 15 до 9О мм модулем от 1 до 2,5 мм с центрированием по наружному диаметру. Конструкция и размеры ГОСТ 27831-88 Язык программирования АДА ГОСТ 34.913.4-91 Информационная технология. Локальные вычислительные сети. Метод маркерного доступа к шине и спецификация физического уровня ГОСТ 16350-80 Районирование и статистические параметры климатических факторов для технических целей