Приборы полупроводниковые. Механические и климатические испытания

1. 2. 3. 9—2044 1

I I

I I I I

II II II II II II II II II II II II

II
1
1.4
2
3
4
5
6
1
1.1
1.2
1.3
2
2.1
2.2
3
4
5
6
147—5 147—5
147—5 147—5
147—5147—5
147—5 147—5
147—5147—5147—5
147—5 147—5
147—5147—5147—5
147—5
147—5 147—5

147—5 III III III III III III III III III III III III III III III IV IV IV

IV
147—5
147—5
147—5 147—5
147—5
147—5 147—5
147—5

shapeType32lineWidth12700

shapeType32lineWidth12700

Semiconductor devices.
Mechanical and climatic test methods
1. 2. 3.
(6) 2*

4. 5. 5.1. а?) Ь?) с?) 5.2. 5.3. 6. 6.1.

6.2. 6.3. 6.4. 6.5. 1. 1.1. 1.2. 1.3. 1.4. 1.4.1. 1.4.2. 1.4.2.1. 1.4.2.2. 1.4.2.3.

1,4.2.4. 2. 2.1. 2.2. 3. 4.

14700 (1500)
4900 (500)
980 (100)
5.

196000 19600 4900 6. 6.1. 6.1.1. 6.1.2. 6.1.3. 6.2. 6.2.1.

6.2.2. 6.2.2.1, 6.2.2.2. 6.2.2.3. 6.2.2.4. а?) Ь?) а?) Ь?) с?) d) е?) f) g) h) 6.3. 6.3.1. 6.3.2. 6.3.3. 6.3.4. 6.3.4.1. 6.3.4.2. 6.3.5.

а?) Ь?) с?) d) е?) 6.4. 6.4.1. 6.4.2. 6.4.3. 6.4.4. 6.4.4.1. 6.4.4.2. 6.4.5. а?) Ь?) с?) 6.5. 6.5.1. 6.5.2. 6.5.3. 6.5.4. а?) Ь?) d) е?) f) g) 6.5.5.
6.6.

1. 2. = 40

h — d —

1. 1.1. 1.2.

2. 3. а?) Ь?) с?) d) е?) f) g) h)

4. ( 5. 5 а?) Ь?) с?) d) е?) f) g) h) j) 5 5 5 5 1) 2) 3) 4) 5 1) 2) 3) 5 5В? —2.3.1. 5В? —2.3.2. а?) Ь?) с?) 5 5 5 5 а?) Ь?) с?) d) 6.

7. 7.1. 7.2. 7.2.1. 7,2.2. 7.2.3.
7.2.4. 7.2.5. * 7.2.6. 7.2.7. • а?) Ь?) с?) 7.3. 7.3.1. 7.3.2. 7.3.2.1. 7.3.2.2. 7.3.2.3.

J?=1200 $ — k — (2)
Pi —

7.3.2.4. 7.3.2.5. 7,3:3. 7.3.4.
( 7.3.5. 7.4. ( 8. <9.

1. 1.1. 1) 2) 3)

( 2. 1. 2. 1. 2. 3.

1. .2. 3. -4. 5. .1. 1.1. 1.2. 1.3. 1.4. -2. 2.1. 2.2. 3. 4. 3. 6. 6.1. 6.2. 6.3. 6.4. 6.5. 6.6. '1. 1.1. 1.2. 2. 3. 4. 5. 6. 7. 7.1. 7.2. 7.3. 7.4. ‘8. 9.

1. 1,1. 1.2. 2,

’ •