Государственная система обеспечения единства измерений. Государственный специальный эталон и государственная поверочная схема для средств измерений бикомплексной проницаемости и модуля коэффициента отражения в диапазоне частот 0,2-1,0 ГГЦ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

СОЮЗА «СР

ГОСУДАРСТВЕННАЯ СИСТЕМА ОБЕСПЕЧЕНИЯ

ЕДИНСТВА ИЗМЕРЕНИЙ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СПЕЦИАЛЬНЫЙ

ЭТАЛОН И ГОСУДАРСТВЕННАЯ

ПОВЕРОЧНАЯ СХЕМА ДЛЯ СРЕДСТВ

ИЗМЕРЕНИЙ БИКОМПЛЕКСНОЙ

ПРОНИЦАЕМОСТИ И МОДУЛЯ

КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ

В ДИАПАЗОНЕ ЧАСТОТ 0,21|,0 ГГц

ГОСТ 8.274-85

Издание официальное

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ЛО СТАНДАРТАМ

.М о с кла
РАЗРАБОТАН Государственным комитетом СССР wo стандартам ИСПОЛНИТЕЛИ
Н. Л. Яцынина, канд. техн, наук (руководитель темы); Г, А. Ведюшкин, канд, техн, наук; Н. М. Карих, канд. техн, наук; Н. А. Никулина; Н. А. Щеткин
ВНЕСЕН Государственным комитетом СССР по стандартам
Член Госстандарта Л. К. Исаев
УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Государствен­ного комитета СССР по стандартам от 17 октября 1985 г. № 118

ГОС У Д А Р С Т В Е И Н Ы »

Государственная система обеспечения единства
измерений

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СПЕЦИАЛЬНЫЙ ЭТАЛОН

И ГОСУДАРСТВЕННАЯ ПОВЕРОЧНАЯ СХЕМА ДЛЯ СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЙ БИКОМПЛЕКСНОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ И МОДУЛЯ КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ В ДИАПАЗОНЕ ЧАСТОТ 0,2-ь 1,0 ГГц
State system for ensuring the uniformity
of measurements. State special standard and state
verification schedule for means measuring complex
permittivity and complex permeability as well
as reflection factor modulus at frequencies
jof 0,2 to 1 GHz

ОКСТУ 0008

Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 17 октяб* ря 1985 г. Нг 118 срок введения установлен
с 01.01.87
Настоящий стандарт распространяется на государственный специальный эталон и государственную поверочную схему для средств измерений бикомплексной проницаемости и модуля коэф­фициента отражения в диапазоне частот 0,2 ч-1,0 ГГц и устанав­ливает назначение государственного специального эталона еди­ниц бикомплексной проницаемости — относительных единиц в ди­апазоне частот 0,2 ч-1,0 ГГц, комплекс основных средств измере­ний, входящих в его состав, основные метрологические характе­ристики эталона и порядок передачи размера единиц бикомплек­сной проницаемости от государственного специального эталона при помощи вторичных эталонов и образцовых средств, измерений бикомплексной проницаемости и модуля коэффициента отражения рабочим средствам измерений с указанием погрешностей и основ­ных методов поверки.
Перепечатка воспрещена
С© Издательство стандартов, 1986
' ♦.эталон» _
1.1. Государственный специальный эталон
1.1.1. Государственный специальный эталон предназначен для воспроизведения и хранения единиц бикомплексной проницаемости в диапазоне частот 0,2-$• 1,0 ГГц и передачи размера единиц при помощи вторичных эталонов и образцовых средств измерений ра­бочим средствам измерений, применяемым в народном хозяйстве с целью обеспечения единства измерений в Стране.
1.1.2. В' основу измерений бикомплексной проницаемости и мо­дуля коэффициента отражения в диапазоне частот 0,2 -=-1,0 ГГц. должны быть положены единицы, воспроизводимые указанным эталоном.
1.1.3. Государственный специальный эталон состоит из комп­лекса следующих средств измерений:
комплект эталонных двухполюсников;
комплект эталонных четырехполюсников;
компаратор для воспроизведения единиц бикомплексной про­ницаемости и передачи их размеров вторичным эталонам и об­разцовым средствам измерений 1-го разряда.
1.1.4. Диапазон значений относительных единиц бикомплексной проницаемости, воспроизводимых эталоном, составляет 1-*-10 для действительных частей (диэлектрической г' и магнитной р')> 1 • 10”* -*-1 для мнимых частей (диэлектрической ъ" и магнитной р,")-
1.1.5. Государственный специальный эталон обеспечивает вос­произведение единиц со средним квадратическим отклонением ре­зультата измерений So, не превышающим 1-Ю-4 для действитель­ных частей, 2-10~2-^ 1-10-1 — для мнимых частей при десяти неза­висимых наблюдениях. Неисключенная систематическая погреш­ность ©о не превышает 2-Ю-4 для действительных частей, 5-Ю-2ч- 2»10~1 — для мнимых частей.
Нестабильность эталона за год vo составляет 0,7-10-4 для дей­ствительных частей и 0,01-^0,05 для мнимых частей бикомплексной проницаемости. 1
1.1.6. Для обеспечения воспроизведения единиц бикомплексной проницаемости с указанной точностью должны быть соблюдены правила хранения и применения эталона, утвержденные в установ­ленном порядке.
1.1.7. Государственный специальный эталон применяют для пе­редачи размера единиц бикомплексной проницаемости вторичным эталонам и образцовым средствам измерений 1-го разряда непос­редственным сличением, методом прямых измерений и методом кос­венных измерений. ’ •
1.2.. B'TQjp йч ные эталоны
1.1.1. 0 качестве эталона сравнения единиц бикомплексной про- жйцаб^сїйлтфйм^яюТ^ІйИ-ійіект эталонных четырехполюсников в
диапазоне измерений 14-10 для относительных диэлектрической » магнитной Пронина ем остей и Ь10-44- 1 для тангенсов углов потерь, (tgd).
1.1.2. Средние квадратические отклонения результатов сличе­ния эталона сравнения с государственным не должны превышать:. •$хоец—3-Ю"4 для диэлектрической и магнитной проницаемос- тей и Szotge — от 5-Ю—2 до 3*10—1 для тангенса угла потерь.
1.1.3. Эталон сравнения применяют для международных сли­чений.
1.1.4. В качестве рабочих эталонов единиц комплексных ди­электрической и магнитной проницаемостей применяют:
рабочий эталон единиц комплексной диэлектрической проницаг- емости диэлектриков малых объемов толщиной не более 2 мм в ди­апазоне частот 0,24- 1,0 ГГц и в диапазоне измеряемых величин’ є' 14-10 для диэлектрической проницаемости и l-104-j-l-10_1 для' тангенса угла диэлектрических потерь, содержащий комплект эта­лонных образцов и компаратор для передачи размера единиц от рабочего эталона образцовым средствам измерений 1-го разряда;.
рабочие эталоны единиц бикомплексной проницаемости в диа­пазонах частот 0,24-1,0 ГГц и 14-7 ГГц и в диапазоне измеряемых величин 14— 10 для диэлектрической и магнитной проницаемостей и? Г10—4-i-l для тангенсов углов потерь, содержащий комплект эта­лонных четырехполюсников, компаратор для передачи размера еди­ниц бикомплексной проницаемости образцовым средствам измере­ний 2-го ‘разряда;
рабочий эталон комплексной диэлектрической проницаемости? в диапазоне частот 0,54-3,0 ГГц и в диапазоне измерений 104-1000 для диэлектрической проницаемости и 5-Ю-3-т-1 для тангенса угла; диэлектрических потерь, содержащий эталонный образец и ком­паратор для передачи размера единиц комплексной диэлектри­ческой проницаемости образцовым средствам измерений 1-го раз­ряда;
рабочий эталон единицы модуля коэффициента отражения в ди­апазоне частот І4-3 ГГц и в диапазоне измерений 1-10_2-t-3,5-10^*v (|р| Е ) модуля коэффициента отражения по напряженности элек­трического поля, полученного расчетным путем от воспроизведен­ной государственным специальным эталоном единицы диэлектри­ческой проницаемости, содержащий комплект эталонных образцов и компаратор для передачи размера единицы модуля коэффициен­та отражения образцовым средствам измерений 2-го разряда.
1.1.5. Средние квадратические отклонения Szo результатов сличений рабочих эталонов с государственным составляют:
5хоє от 1-Ю-3 до 1-Ю-2 по диэлектрической проницаемости зг •Ssotge от 4-Ю-2 до 2-Ю-1 по тангенсу угла диэлектрических по­терь для рабочего эталона комплексной диэлектрической проница­емости диэлектриков малых объемов;
Szoeu от 1-Ю-3 до 5-Ю-3 по диэлектрической и магнитной про- иицаемостям и Ssotge от 5*10-2 до 15*10-2 по тангенсу угла потерь для рабочих эталонов единиц бикомплексной проницаемости;
Ssos от 5-Ю"3 до 140-2 по диэлектрической проницаемости и Szotgd от ЗЛО"2 до 7-Ю-2 по тангенсу угла диэлектрических по­терь для рабочего эталона единиц комплексной диэлектрической проницаемости; '
Ssop от 3-Ю-3 до 1-Ю-1 для модуля коэффициента отражения для рабочего эталона единицы модуля коэффициента отражения.
1.1.6. Рабочие эталоны применяют для передачи размера еди­ниц образцовым средствам измерений 1 и 2-го разрядов методом прямых измерений.

2. ОБРАЗЦОВЫЕ СРЕДСТВА ИЗМЕРЕНИЙ

2.1. О б р а з цо в ы е средства измерений 1-го раз­ряда
2.1.1. В качестве образцовых средств измерений 1-го разряда применяют:
образцовую установку для измерений параметров диэлектри­ков малых объемов в диапазоне частот 0,24-1,0 ГГц и в диапазо­не измерений 14-20 для диэлектрической проницаемости и 1-Ю-44-1-Ю-1 для тангенса угла диэлектрических потерь;
стандартные образцы диэлектрической проницаемости в диа­пазоне измерений 14-10 для диэлектрической проницаемости;
образцовую установку для измерений комплексной диэлектри­ческой проницаемости в диапазоне частот 0,54-3,0 ГГц при темпе­ратурах от минус 50 до плюс 200 °С и управляющих напряжениях •от 0 до 1000 В в интервалах измерений 104-1000 для диэлектричес­кой проницаемости, 5-Ю-34-1 для тангенса угла диэлектрических потерь' .
2.1.2. Доверительные относительные погрешности образцовых средств измерений 1-го разряда при доверительной вероятности 0,95 составляют:
бое от 0,5 до 2,0 % по диэлектрической проницаемости и •$otg6 от 7 до 30 % по тангенсу угла диэлектрических потерь об­разцовой установки для измерений параметров диэлектриков ма­лых объемов.
бое 0,3 % по диэлектрической проницаемости для стандартных образцов диэлектрической проницаемости; ‘
бое 2% по'диэлектрической проницаемости и 6otge 10 % по тангенсу угла диэлектрических потерь образцовой установки для измерения комплексной диэлектрической проницаемости'.
2.1.3. Образцовые средства измерений 1-го разряда применя­ют для передачи размера единиц стандартным образцам 2-го раз­ряда и рабочим средствам измерений методом прямых измерений и сличением при помощи компаратора.
2.2. О б р а з цо в ы ё с р е дств а .. и з м ер ен ий 2-го раз­ряда
2.2.1. В качестве образцовых средств измерений 2-го разряда применяют?
стандартные образцы комплексной диэлектрической проницае­мости диэлектриков малых объемов в диапазоне частот 0,2ч- 1,0* ГГц и в диапазоне измерений 14-20 для диэлектрической прони­цаемости и 1«10~4ч- 140-1 для тангенса угла диэлектрических по­терь; '
стандартные образцы бикомплексной проницаемости в диапа­зоне частот 0,24-1,0 ГГц и 1ч-7 ГГц и їв диапазоне измерений' 1ч-20 для диэлектрической и маг