ГОСТ Стандарт

ГОСТ 4.465-87

Система показателей качества продукции. Микросхемы интегральные. Номенклатура показателей

1 836 просмотров

Скачать документ

Формат .docx · доступно зарегистрированным пользователям

Войти и скачать

Текст документа

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

СОЮЗА ССР

СИСТЕМА ПОКАЗАТЕЛЕЙ КАЧЕСТВА ПРОДУКЦИИ

МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ

НОМЕНКЛАТУРА ПОКАЗАТЕЛЕЙ

ГОСТ 4.465—87

Издание официальное

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО СТАНДАРТАМ

Москва
Система показателе з качества продукции

МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ

Номенклатура показателей
Product-quality index system.
Integrated circuits.
Index nomenclature

ОКП G3 3101, 03 3301

Таблица 1
Наименование показателя качества
Обозначение показателя качества
Наименование характеризуемого свойства

1. показатели назначения
1.1. Амплитуда импульсов выходно­
вых/ А

го напряжения, В
1.2. Апертурная задержка, нс
ta
Точность преобразования
1.3. Верхняя граничная частота по­

лосы пропускания (ГОСТ 19480—74), кГц
1.4. Время включения (выключе­
/вкл (/выкл)
Быстродействие
ния), мкс
1.5. Время выборки

Быстродействие
(ГОСТ 19480—74), мкс
1.6. Время задержки импульса
/зд
Быстродействие
(ГОСТ 19480—74), нс
1.7. Время задержки распростране­
,1.0 зд, р
Быстродействие
ния сигнала при включении (ГОСТ 19480—74), нс
1.8. Время выполнения операции,

Быстродействие
мкс
1.9. Время преобразования (для
/прб
Быстродействие
аналого-цифровых преобразователей— АЦП), мкс
1.10. Время установления выходно­
/уст
Быстродействие
го напряжения (для цифро-аналого­вых преобразователей (ЦАП) с вы­ходом по напряжению) (ГОСТ 19480—74), мкс
1.11. Время установления выходно­
/уст.-/
Быстродействие
го тока (для ЦАП с выходом по то­ку), мкс
1.12. Время хранения информации
/хр

(для репрограммируемых постоянных запоминающих устройств (РПЗУ) (ГОСТ 19480—74), ч
1.13. Время цикла (ГОСТ 19480—

Быстродействие
74), нс
1.14. Входное напряжение (ГОСТ
иях

19480—74), В
1.15. Входное напряжение высоко­
и* вх

го уровня (ГОСТ 19480—74), В
1.16. Входное напряжение низкого
и0 вх

уровня (ГОСТ 19480—74), В
1.17. Выходное напряжение (ГОСТ

U ВЫХ

__
19480—74), В
1.18. Выходное напряжение, высоко­
^вых

го уровня (ГОСТ 19480—74), В
1.19. Выходное напряжение низко­
и° вых

го уровня (ГОСТ 19480—74), В
1.20. Выходная мощность (ГОСТ
Р вых

19480—74), Вт

Продолжение табл. 1
Наименование показателя качества
Обозначение показателя качества
Наименование характеризуемого свойства
1.21. Входной ток (ГОСТ 19480—
74), нА
/ вх

1.22. Выходной ток (ГОСТ 19480— 74), Л
^вых

1.23. Диапазон автоматической ре-

Л^ДРУ

Автоматическое измене-
гулировки усиления (I ОСТ 19480—

ние коэффициента уси-
74), дБ

ления
1.24. Длительность импульсов вы­ходного напряжения, мкс
Ти

і 25 Длительность фронта (среза)
Тфр(ср)

импульсов выходного напряжения, мкс
1.26. Дифференциальная нелиней­ность ЦАП (АЦП)
А'диф
Точность преобразования
1.27. Допустимое отклонение ем­кости от номинального значения, %
АС

1.28. Допустимое отклонение сопро-
А/?

тивлсния от номинального значения,

%

1.29. Интегральная световая чувст­вительность, В■лк~1
X
Способность светового восприятия
1.30. Информационная емкость опе­ративных запоминающих устройств (ОЗУ), бит
Оо.з.у

1.31. Информационная емкость по-
Qu. з.у

СТ0ЯП2ІЫХ запоминающих устройств

(ПЗУ), бит

1.32. Информационная емкость уп­равляемой памяти, Кбит
I 33. Информационная емкость, бит
.—

Q

1.34. Число вводов
N..

1.35. Число вводов/выводов
Nвв/вых

1.36. Число выводов
№ выв

1.37. Число команд
1.38. Число разрядов в информа-
N ком
Функциональные воз­можности

^инф
Формат информации
ционном слове;

число разрядов для ЦАП и АЦП
п

1.39. Число информационных слов
q
Формат информации
1.40. Число циклов перепрограмми-
ма
Многократность измене-
рования (для РПЗУ)

пня информации
1.41. Число элементов задержки
N зад
Время задержки
1.42. Число элементов разложения
N разд
Разрешающая способ-

ность
1.43. Время задержки распростра-
,1.0 зд. Р
Быстродействие
.нения сигнала при выключении (ГОСТ 19480—74), нс
1.41. Коммутируемое напряжение, В

^ком

1.45. Коммутируемый ток, А
I ком

Продолжение табл. I
Наименование показателя качества
Обозначение показателя качества
Наименование характеризуемого свойства
1.46. Коэффициент гармоник (ГОСТ
Кг
Нелинейные искажения
19480—74), %

выходного сигнала
1.47. Коэффициент деления часто-
Адел. і

ты (ГОСТ 19480—74)
1.48. Полоса пропускания (ГОСТ
АС
Работоспособность в за-
19480—74), кГц

данном диапазоне час-
1.49. Коэффициент ослабления син-
Кос.сф
тот
Способность подавлять
фазных входных напряжений (ГОСТ

синфазные сигналы
19480—74), дБ
1.50. Коэффициент усиления на-
К,.и

пряжения (ГОСТ 19480—74)
1.51. Коэффициент шума, дБ
кш

1.52. Напряжение смещения нуля
Кем

(ГОСТ 19480—74), мВ
1.53. Нелинейность ЦАП (АЦП),
6
Точность преобразования
1.54. Нестабильность по напряже-
Ku

НИЮ, %
1.55. Нестабильность по току, %
к.

1.56. Нижняя граничная частота
Си

полосы пропускания (ГОСТ 19480— 74), кГц
ном

1.57. Номинальное значение ем-


кости, пФ
1.58. Номинальное значение сопро-
А ном

тивления, Ом
1.59. Остаточное напряжение
ио„
Точность преобразования
(ГОСТ 19480—74), мВ
1.60. Относительная погрешность
є

перемножения, %
1.61. Погрешность преобразования,
дир

%
1.62. Пороговое напряжение, мВ
U пор
Крутизна спада ампли-
1.63. Порядок фильтра
А'$

1.64. Приведенное ко входу на-
С/щ.вх
тудио-частотнои харак­теристики
пряжение шумов (ГОСТ 19480—74), мВ
1.65. Разность входных токов
Д-^вх

(ГОСТ 19480—74), нА

1.66. Рассеиваемая мощность, мВт
Р ра«

1.67. Рабочее напряжение, В
І7раб

1.68. Скорость изменения выходно-
V I]
и1ЫХ.ХР
Сохраняемость сигнала
го напряжения в режиме хранения, мВ-мс-1
1.69. Скорость нарастания выходно-
V п СВ Ы X
Быстродействие
го напряжения (ГОСТ 19480—74), В-мкс-1

Продо.іжение табл. 1

Обозначение
Наименование
Наименование показателя качества
показателя качества
характеризуемого свойства
1.70. Сопротивление в открытом состоянии, Ом
1.71. Спектральная плотность шу­мов, нВ-Гц — 72
Яо ГК
__

Єш

1.72. Температурный коэффициент напряжения смещения нуля, мкВ °С-1
1.73. Температурный коэффициент разности входных токов, нА °С-1
Сіи.см

аДІвх

1.74. . Тепловое сопротивление
кристалл — корпус, °С/Вт
1.75. Максимальная температура кристалла, °С
1.76. Частота входного сигнала, кГц
йК-к

rK

ft1

1.77. Частота выходного сигнала, кГц
j вых

1.78. Частота генерирования (ГОСТ 19480—74), кГц
f Г
■—
1.79. Частота коммутации, кГц
/ком

1 80. Частота синхронизации, МГц
/син

1.81. Частота следования импуль­сов тактовых сигналов (ГОСТ 19480—74), МГц
л

2. ПОКАЗАТЕЛИ НАДЕЖНОСТИ

2.1. Интенсивность отказов в тече­ние наработки:
X,
Долговечно С1Ь
интенсивность отказов (ГОСТ 25359—82), ч-‘
Хи
Безотказность
2.2. Наработка (ГОСТ 25359—82), ч

Долговечность
2.3. Гамма-процентный срок сохра­няемости (ГОСТ 21493—76), лет
Лр
Сохраняемость

3. ПОКАЗАТЕЛИ ЭКОНОМНОГО ИСПОЛЬЗОВАНИЯ ЭНЕРГИИ

3.1. Потребляемая мощность; по­требляемый ток (ГОСТ 19480—74), мВт, мА
Р 1\оті Лют

3.2. Потребляемая мощность на ос­новной логический элемент, мВт
Р пот.а

3.3. Удельная энергоемкость, мВт/шт-ч
Ку.,

4. ПОКАЗАТЕЛИ

ТЕХНОЛОГИЧНОСТИ

4.1. Технологический выход год­ных изделий, %
4.2. Трудоемкость на 1000 шт, нор­мо-ч
Вг

Продолжение табл. 1
Наименование показателя качества
Обозначение показателя качества
Наименование характеризуемого свойства
4.3. Коэффициент использования дефицитных материалов
/Сдеф

4.4. Коэффициент использования драгоценных материалов

5. показатели стандартизации и унификации
5.1. Коэффициент применяемости I Knv I конструкции, % I I

6. ПОКАЗАТЕЛИ ПАТЕНТНО-ПРАВОВЫЕ

6.1. Показатель патентной защиты І Пп,, I
6.2. Показатель патентной чистоты | П„,ч |
7. показатели объемно-весовые
7.1. Объем, мм3
V
■—
7.2. Масса, г
пг

7.3. Степень интеграции

Количество элементов
7.4. Удельная материалоемкость,
Ку."

г/(шт-ч)

8. показатели стойкости
К ВНЕШНИМ воздействующим факторам
8.1. Повышенная рабочая темпера­тура, °С
8.2. Пониженная рабочая темпера­тура, °С
Примечания:
1. Основные показатели качества выделены полужирным шрифтом.
2. Обозначение стандарта, в соответствии с которым приведено наименова­ние показателя качества, указано в скобках.
1.2. Алфавитный перечень показателей качества интегральных микросхем приведен в справочном приложении 1, пояснения и при­меры применения показателей качества — в справочном прило­жении 2.

2. ПРИМЕНЯЕМОСТЬ ПОКАЗАТЕЛЕЙ КАЧЕСТВА ИНТЕГРАЛЬНЫХ

МИКРОСХЕМ

2.1. Перечень основных показателей качества
Основные показатели качества интегральных микросхем по подгруппам однородной продукции должны соответствовать при­веденным в табл. 1.
2.2. Применяемость показателей качества по подгруппам одно­родной продукции приведена в табл. 2, показателей, включаемых
Кэ to io to ~
Wto—ОООО-ЧОі
1.13
1.14
1.15
bo -Ч О1СЛ W io — nd— о
Номер показателя по табл. 1
1 II 1 1 1 +1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 I 1.
гармонических

OK.II (ІЗ 3101 4130.

ОКИ 63 3301 4130
Геиера
1 1 1 1 1. 1 I 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 +
прямоугольных ОКП 63 3101 4110, ОКП 63 3301 4110
о
Е
X
1 г 1 1 1- 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 +
линейно-измс- няющихся
ОКП 63 3101 4120,
ОКП 63 3301 4120
гналов
1.1 1 1 1 1 II
1 +1
III 1 1 1 1 1 1 1 + 1 1
амплитудные ОКП 63 3101 4410

1 1. 1 1 И 1 1
1 +1
1 1 1 1 1 1 1 1 1 +1 1
частотные
ОКП 63 3101 4420
Дет<
1 Г 1 1 И 1 1
1 +1
1 1 1 ІГ 1 1 1 1 + 1 1
импульсные
ОКП 63 3101 4430
Ж о
Tj 1 1 II 1 1
1 +1
ііігrіііі +1 і
фазовые
ОКП 63 3101 4440
Е
J 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 Г 1 1 + 1 1 1
Коммутаторы и ключи ОКП 63 3101 3300.
ОКП 63 3301 3800
1 1 1 1 1 '1 • 1
1 +1

II 1 1 1 1 Г 1 Г+ 1 1

Модуляторы
ОКП 63 3101 3300,
ОКП 63 3301 3300
I I; 1 III 1 1 1 1 l.l 1 і I I 1 Г Г 1 1 ГІ
Наборы резистрров ОКП 63 3101 4610, ОКП 63 3301 4610
Набор
I 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 Г Ґ II Illi 1' Г Г ‘
Наборы конденса­торов; •
ОКП 63 3101 4620.
ОКП 63 3301 4620
о 2
1 1' 1 1 1 II 1 I I 1 ҐІ 1 1 г г 1 1 1 1 1 1
Наборы резисторов и конденсаторов ОКП 63'3101 4690. ОКП 63 3301 4690
О
1. 1 1 1 1 1 1 1
1 +1

II 1 1 Г 1 Г1 1 + 1 1

Преобразователи частоты’ аналоговые ОКП 63 3101 3210

1 '1 1' 1 1 1 1 1 1 1 1 Ії+ 1 + 1 1 1 1 1 1 1 1
Аналого-цифровые (АЦП) • '

ОКП 63 3101 3260, ОКП 63 3301 3260

“1
1111111111II1 +1 1 1 1 1 1 1 1 1
Цифро-аналоговые (ПАП)■
ОКП 63 3101 3250.
ОКП 63 3301 3250
Іреоб