ГОСТ Стандарт

ГОСТ 4.465-87

Система показателей качества продукции. Микросхемы интегральные. Номенклатура показателей

1 833 views

Download document

.docx format · available to registered users

Sign in and download

Document text

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

СОЮЗА ССР

СИСТЕМА ПОКАЗАТЕЛЕЙ КАЧЕСТВА ПРОДУКЦИИ

МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ

НОМЕНКЛАТУРА ПОКАЗАТЕЛЕЙ

ГОСТ 4.465—87

Издание официальное

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО СТАНДАРТАМ

Москва
Система показателе з качества продукции

МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ

Номенклатура показателей
Product-quality index system.
Integrated circuits.
Index nomenclature

ОКП G3 3101, 03 3301

Таблица 1
Наименование показателя качества
Обозначение показателя качества
Наименование характеризуемого свойства

1. показатели назначения
1.1. Амплитуда импульсов выходно­
вых/ А

го напряжения, В
1.2. Апертурная задержка, нс
ta
Точность преобразования
1.3. Верхняя граничная частота по­

лосы пропускания (ГОСТ 19480—74), кГц
1.4. Время включения (выключе­
/вкл (/выкл)
Быстродействие
ния), мкс
1.5. Время выборки

Быстродействие
(ГОСТ 19480—74), мкс
1.6. Время задержки импульса
/зд
Быстродействие
(ГОСТ 19480—74), нс
1.7. Время задержки распростране­
,1.0 зд, р
Быстродействие
ния сигнала при включении (ГОСТ 19480—74), нс
1.8. Время выполнения операции,

Быстродействие
мкс
1.9. Время преобразования (для
/прб
Быстродействие
аналого-цифровых преобразователей— АЦП), мкс
1.10. Время установления выходно­
/уст
Быстродействие
го напряжения (для цифро-аналого­вых преобразователей (ЦАП) с вы­ходом по напряжению) (ГОСТ 19480—74), мкс
1.11. Время установления выходно­
/уст.-/
Быстродействие
го тока (для ЦАП с выходом по то­ку), мкс
1.12. Время хранения информации
/хр

(для репрограммируемых постоянных запоминающих устройств (РПЗУ) (ГОСТ 19480—74), ч
1.13. Время цикла (ГОСТ 19480—

Быстродействие
74), нс
1.14. Входное напряжение (ГОСТ
иях

19480—74), В
1.15. Входное напряжение высоко­
и* вх

го уровня (ГОСТ 19480—74), В
1.16. Входное напряжение низкого
и0 вх

уровня (ГОСТ 19480—74), В
1.17. Выходное напряжение (ГОСТ

U ВЫХ

__
19480—74), В
1.18. Выходное напряжение, высоко­
^вых

го уровня (ГОСТ 19480—74), В
1.19. Выходное напряжение низко­
и° вых

го уровня (ГОСТ 19480—74), В
1.20. Выходная мощность (ГОСТ
Р вых

19480—74), Вт

Продолжение табл. 1
Наименование показателя качества
Обозначение показателя качества
Наименование характеризуемого свойства
1.21. Входной ток (ГОСТ 19480—
74), нА
/ вх

1.22. Выходной ток (ГОСТ 19480— 74), Л
^вых

1.23. Диапазон автоматической ре-

Л^ДРУ

Автоматическое измене-
гулировки усиления (I ОСТ 19480—

ние коэффициента уси-
74), дБ

ления
1.24. Длительность импульсов вы­ходного напряжения, мкс
Ти

і 25 Длительность фронта (среза)
Тфр(ср)

импульсов выходного напряжения, мкс
1.26. Дифференциальная нелиней­ность ЦАП (АЦП)
А'диф
Точность преобразования
1.27. Допустимое отклонение ем­кости от номинального значения, %
АС

1.28. Допустимое отклонение сопро-
А/?

тивлсния от номинального значения,

%

1.29. Интегральная световая чувст­вительность, В■лк~1
X
Способность светового восприятия
1.30. Информационная емкость опе­ративных запоминающих устройств (ОЗУ), бит
Оо.з.у

1.31. Информационная емкость по-
Qu. з.у

СТ0ЯП2ІЫХ запоминающих устройств

(ПЗУ), бит

1.32. Информационная емкость уп­равляемой памяти, Кбит
I 33. Информационная емкость, бит
.—

Q

1.34. Число вводов
N..

1.35. Число вводов/выводов
Nвв/вых

1.36. Число выводов
№ выв

1.37. Число команд
1.38. Число разрядов в информа-
N ком
Функциональные воз­можности

^инф
Формат информации
ционном слове;

число разрядов для ЦАП и АЦП
п

1.39. Число информационных слов
q
Формат информации
1.40. Число циклов перепрограмми-
ма
Многократность измене-
рования (для РПЗУ)

пня информации
1.41. Число элементов задержки
N зад
Время задержки
1.42. Число элементов разложения
N разд
Разрешающая способ-

ность
1.43. Время задержки распростра-
,1.0 зд. Р
Быстродействие
.нения сигнала при выключении (ГОСТ 19480—74), нс
1.41. Коммутируемое напряжение, В

^ком

1.45. Коммутируемый ток, А
I ком

Продолжение табл. I
Наименование показателя качества
Обозначение показателя качества
Наименование характеризуемого свойства
1.46. Коэффициент гармоник (ГОСТ
Кг
Нелинейные искажения
19480—74), %

выходного сигнала
1.47. Коэффициент деления часто-
Адел. і

ты (ГОСТ 19480—74)
1.48. Полоса пропускания (ГОСТ
АС
Работоспособность в за-
19480—74), кГц

данном диапазоне час-
1.49. Коэффициент ослабления син-
Кос.сф
тот
Способность подавлять
фазных входных напряжений (ГОСТ

синфазные сигналы
19480—74), дБ
1.50. Коэффициент усиления на-
К,.и

пряжения (ГОСТ 19480—74)
1.51. Коэффициент шума, дБ
кш

1.52. Напряжение смещения нуля
Кем

(ГОСТ 19480—74), мВ
1.53. Нелинейность ЦАП (АЦП),
6
Точность преобразования
1.54. Нестабильность по напряже-
Ku

НИЮ, %
1.55. Нестабильность по току, %
к.

1.56. Нижняя граничная частота
Си

полосы пропускания (ГОСТ 19480— 74), кГц
ном

1.57. Номинальное значение ем-


кости, пФ
1.58. Номинальное значение сопро-
А ном

тивления, Ом
1.59. Остаточное напряжение
ио„
Точность преобразования
(ГОСТ 19480—74), мВ
1.60. Относительная погрешность
є

перемножения, %
1.61. Погрешность преобразования,
дир

%
1.62. Пороговое напряжение, мВ
U пор
Крутизна спада ампли-
1.63. Порядок фильтра
А'$

1.64. Приведенное ко входу на-
С/щ.вх
тудио-частотнои харак­теристики
пряжение шумов (ГОСТ 19480—74), мВ
1.65. Разность входных токов
Д-^вх

(ГОСТ 19480—74), нА

1.66. Рассеиваемая мощность, мВт
Р ра«

1.67. Рабочее напряжение, В
І7раб

1.68. Скорость изменения выходно-
V I]
и1ЫХ.ХР
Сохраняемость сигнала
го напряжения в режиме хранения, мВ-мс-1
1.69. Скорость нарастания выходно-
V п СВ Ы X
Быстродействие
го напряжения (ГОСТ 19480—74), В-мкс-1

Продо.іжение табл. 1

Обозначение
Наименование
Наименование показателя качества
показателя качества
характеризуемого свойства
1.70. Сопротивление в открытом состоянии, Ом
1.71. Спектральная плотность шу­мов, нВ-Гц — 72
Яо ГК
__

Єш

1.72. Температурный коэффициент напряжения смещения нуля, мкВ °С-1
1.73. Температурный коэффициент разности входных токов, нА °С-1
Сіи.см

аДІвх

1.74. . Тепловое сопротивление
кристалл — корпус, °С/Вт
1.75. Максимальная температура кристалла, °С
1.76. Частота входного сигнала, кГц
йК-к

rK

ft1

1.77. Частота выходного сигнала, кГц
j вых

1.78. Частота генерирования (ГОСТ 19480—74), кГц
f Г
■—
1.79. Частота коммутации, кГц
/ком

1 80. Частота синхронизации, МГц
/син

1.81. Частота следования импуль­сов тактовых сигналов (ГОСТ 19480—74), МГц
л

2. ПОКАЗАТЕЛИ НАДЕЖНОСТИ

2.1. Интенсивность отказов в тече­ние наработки:
X,
Долговечно С1Ь
интенсивность отказов (ГОСТ 25359—82), ч-‘
Хи
Безотказность
2.2. Наработка (ГОСТ 25359—82), ч

Долговечность
2.3. Гамма-процентный срок сохра­няемости (ГОСТ 21493—76), лет
Лр
Сохраняемость

3. ПОКАЗАТЕЛИ ЭКОНОМНОГО ИСПОЛЬЗОВАНИЯ ЭНЕРГИИ

3.1. Потребляемая мощность; по­требляемый ток (ГОСТ 19480—74), мВт, мА
Р 1\оті Лют

3.2. Потребляемая мощность на ос­новной логический элемент, мВт
Р пот.а

3.3. Удельная энергоемкость, мВт/шт-ч
Ку.,

4. ПОКАЗАТЕЛИ

ТЕХНОЛОГИЧНОСТИ

4.1. Технологический выход год­ных изделий, %
4.2. Трудоемкость на 1000 шт, нор­мо-ч
Вг

Продолжение табл. 1
Наименование показателя качества
Обозначение показателя качества
Наименование характеризуемого свойства
4.3. Коэффициент использования дефицитных материалов
/Сдеф

4.4. Коэффициент использования драгоценных материалов

5. показатели стандартизации и унификации
5.1. Коэффициент применяемости I Knv I конструкции, % I I

6. ПОКАЗАТЕЛИ ПАТЕНТНО-ПРАВОВЫЕ

6.1. Показатель патентной защиты І Пп,, I
6.2. Показатель патентной чистоты | П„,ч |
7. показатели объемно-весовые
7.1. Объем, мм3
V
■—
7.2. Масса, г
пг

7.3. Степень интеграции

Количество элементов
7.4. Удельная материалоемкость,
Ку."

г/(шт-ч)

8. показатели стойкости
К ВНЕШНИМ воздействующим факторам
8.1. Повышенная рабочая темпера­тура, °С
8.2. Пониженная рабочая темпера­тура, °С
Примечания:
1. Основные показатели качества выделены полужирным шрифтом.
2. Обозначение стандарта, в соответствии с которым приведено наименова­ние показателя качества, указано в скобках.
1.2. Алфавитный перечень показателей качества интегральных микросхем приведен в справочном приложении 1, пояснения и при­меры применения показателей качества — в справочном прило­жении 2.

2. ПРИМЕНЯЕМОСТЬ ПОКАЗАТЕЛЕЙ КАЧЕСТВА ИНТЕГРАЛЬНЫХ

МИКРОСХЕМ

2.1. Перечень основных показателей качества
Основные показатели качества интегральных микросхем по подгруппам однородной продукции должны соответствовать при­веденным в табл. 1.
2.2. Применяемость показателей качества по подгруппам одно­родной продукции приведена в табл. 2, показателей, включаемых
Кэ to io to ~
Wto—ОООО-ЧОі
1.13
1.14
1.15
bo -Ч О1СЛ W io — nd— о
Номер показателя по табл. 1
1 II 1 1 1 +1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 I 1.
гармонических

OK.II (ІЗ 3101 4130.

ОКИ 63 3301 4130
Геиера
1 1 1 1 1. 1 I 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 +
прямоугольных ОКП 63 3101 4110, ОКП 63 3301 4110
о
Е
X
1 г 1 1 1- 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 +
линейно-измс- няющихся
ОКП 63 3101 4120,
ОКП 63 3301 4120
гналов
1.1 1 1 1 1 II
1 +1
III 1 1 1 1 1 1 1 + 1 1
амплитудные ОКП 63 3101 4410

1 1. 1 1 И 1 1
1 +1
1 1 1 1 1 1 1 1 1 +1 1
частотные
ОКП 63 3101 4420
Дет<
1 Г 1 1 И 1 1
1 +1
1 1 1 ІГ 1 1 1 1 + 1 1
импульсные
ОКП 63 3101 4430
Ж о
Tj 1 1 II 1 1
1 +1
ііігrіііі +1 і
фазовые
ОКП 63 3101 4440
Е
J 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 Г 1 1 + 1 1 1
Коммутаторы и ключи ОКП 63 3101 3300.
ОКП 63 3301 3800
1 1 1 1 1 '1 • 1
1 +1

II 1 1 1 1 Г 1 Г+ 1 1

Модуляторы
ОКП 63 3101 3300,
ОКП 63 3301 3300
I I; 1 III 1 1 1 1 l.l 1 і I I 1 Г Г 1 1 ГІ
Наборы резистрров ОКП 63 3101 4610, ОКП 63 3301 4610
Набор
I 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 Г Ґ II Illi 1' Г Г ‘
Наборы конденса­торов; •
ОКП 63 3101 4620.
ОКП 63 3301 4620
о 2
1 1' 1 1 1 II 1 I I 1 ҐІ 1 1 г г 1 1 1 1 1 1
Наборы резисторов и конденсаторов ОКП 63'3101 4690. ОКП 63 3301 4690
О
1. 1 1 1 1 1 1 1
1 +1

II 1 1 Г 1 Г1 1 + 1 1

Преобразователи частоты’ аналоговые ОКП 63 3101 3210

1 '1 1' 1 1 1 1 1 1 1 1 Ії+ 1 + 1 1 1 1 1 1 1 1
Аналого-цифровые (АЦП) • '

ОКП 63 3101 3260, ОКП 63 3301 3260

“1
1111111111II1 +1 1 1 1 1 1 1 1 1
Цифро-аналоговые (ПАП)■
ОКП 63 3101 3250.
ОКП 63 3301 3250
Іреоб